Corrosion of alkanethiol-covered Cu(100) surfaces in hydrochloric acid solution studied by in-situ scanning tunneling microscopy

Langmuir

Volumn 13, Issue 26, 1997, Pages 7045-7051

  Scherer, J ^a   Vogt, M R ^a   Magnussen, O M ^a   Behm, R J ^a  

^a UNIVERSITY OF ULM   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ADSORPTION; ELECTROCHEMISTRY; HYDROCHLORIC ACID; MONOLAYERS; MORPHOLOGY; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SULFUR COMPOUNDS; SURFACE ROUGHNESS;

HEXADECANETHIOL; OCTANETHIOL;

COPPER CORROSION;

EID: 0031356064     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la970372u     Document Type: Article

References (36)

1. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.;Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152.
2. Walczak, M. M.; Chung, C.; Stole, S. M.; Widrig, C. A.; Porter, M. D. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 2370.
3. Fenter, P.; Eisenberger, P.; Li, J.; Camillone, N.; Bernasek, S.; Scoles, G.; et al. Langmuir 1991, 7, 2013.
4. Bucher, J.-P.; Santesson, L.; Kern, K. Langmuir 1994, 10, 979.
5. Li, W.; Virtanen, J. A.; Penner, R. M. Langmuir 1995, 11, 4361.
6. Blackman, L. C. F.; Dewar, M. J. S.; Hampson, H. J. Appl. Chem. 1957, 7, 160.
7. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 1990.
8. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 9022.
9. Yamamoto, Y.; Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1993, 140, 436.
10. Feng, Y.; Teo, W.-K.; Siow, K.-S.; Gao, Z.; Tan, K.-L.; Hsieh, A.-K. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 55.
11. Jennings, G. K.; Laibinis, P. E. Colloids Surf. A 1996, 116, 105.
12. Stratmann, M. Adv. Mater. 1990, 29, 191.
13. Stratmann, M. Stahl Eisen 1993, 113, 101.
14. Pan, J.; Tao, N.; Lindsay, S. M. Langmuir 1993, 9, 1556.
15. Rohwerder, M.; de Weldige, K.; Vago, E.; Viefhaus, H.; Stratmann, M. Thin Solid Films 1995, 264, 240.
16. Li, Y.-Q.; Chailapakul, O.; Crooks, R. M. J. Vac. Sci. Technol., B 1995, 13, 1300.
17. Gilbert, S. E.; Cavalleri, O.; Kern, K. J. Phys. Chem. 1996, 100, 12123.
18. Zamborini, F. P.; Crooks, R. M. Langmuir 1997, 13, 122.
19. Moffat, T. P.; Yang, H. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, L220.
20. Itoh, M.; Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1994, 141, 2018.
21. Itoh, M.; Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 1839.
22. Itoh, M.; Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 3696.
23. Haneda, R.; Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 1215.
24. Vogt, M. R.; Möller, F. A.; Schilz, C. M.; Magnussen, O. M.; Behm, R. J. Surf. Sci. 1996, 367, L33.
25. Vogt, M. R.; Lachenwitzer, A.; Magnussen, O. M.; Behm, R. J. Surf. Sci., in press.
26. Suggs, D. W.; Bard, A. J. J. Phys: Chem. 1995, 99, 8349.
27. Moffat, T. P. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 1996, 404, 3.
28. Moffat, T. P. Mater. Res. Soc. Symp. Proc., in press.
29. Vogt, M. R.; Polewska, W.; Magnussen, O. M.; Behm, R. J. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, L113.
30. Besocke, K. H. Surf. Sci. 1987, 181, 145.
31. Porter, M. D.; Bright, T. B.; Allara, D. L.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 3559.
32. Kim, Y.-T.; Bard, A. J. Langmuir 1992, 8, 1096.
33. Schönenberger, C.; Sondag-Huethorst, J. A. M.; Jorritsma, J.; Fokkink, L. G. J. Langmuir 1994, 10, 611.
34. Edinger, K.; Gölzhäuser, A.; Demota, K.; Wöll, C.; Grunze, M. Langmuir 1993, 9, 4.
35. McCarley, R. L.; Dunaway, D. J.; Willicut, R. J. Langmuir 1993, 9, 2775.
36. Sondag-Huethorst, J. A. M.; Schönenberger, C.; Fokkink, L. G. J. J. Phys. Chem. 1994, 98, 6826.