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Volumn 80, Issue 10, 1996, Pages 5713-5717

X-ray-diffraction study of quasipseudomorphic ErSi1.7 layers formed by channeled ion-beam synthesis

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EID: 0013032038     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.363623     Document Type: Review
Times cited : (22)

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    • 85033004445 scopus 로고    scopus 로고
    • note
    • The authors probably mean the 〈1213〉 axis.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.