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Volumn 6, Issue 10, 1997, Pages 1467-1471

Anisotropic oxidation of silicon carbide

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Rutherford backscattering spectrometry; Silicon carbide; Thermal oxidation; Transmission electron microscopy

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EID: 0012343125     PISSN: 09259635     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0925-9635(97)00077-0     Document Type: Article
Times cited : (12)

References (6)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.