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Volumn 52, Issue 2, 1999, Pages 17-18

Experiments and Simulations Track Crack Propagation in Silicon Wafers

(1)  Day, Charles a  

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EID: 0004936808     PISSN: 00319228     EISSN: None     Source Type: Trade Journal    
DOI: 10.1063/1.882518     Document Type: Article
Times cited : (3)

References (4)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.