Influence of crystallite size distribution on the micro-Raman analysis of porous Si

Applied Physics Letters

Volumn 78, Issue 6, 2001, Pages 715-717

  Islam, Md N ^a   Kumar, Satyendra ^a  

^a INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY KANPUR   (India)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0002696310     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1343494     Document Type: Article

References (24)

1. H. Takagi, H. Ogawa, Y. Yamazaki, A. Ishizaki, and T. Nakagiri, Appl. Phys. Lett. 56, 2379 (1990).
2. H. Xia, Y. L. He, L. C. Wang, W. Zhang, X. N. Liu, X. K. Zhang, D. Fang, and H. E. Jackson, J. Appl. Phys. 78, 6705 (1995).
3. P. F. Trwoga, A. J. Kenyon, and C. W. Pitt, J. Appl. Phys. 83, 3789 (1998).
4. Z. H. Lu, D. J. Lockwood, and J. M. Baribeau, Nature (London) 378, 258 (1995).
5. See, for example, A. G. Cullis, L. T. Canham, and P. D. J. Calcott, J. Appl. Phys. 82, 909 (1997), and references therein.
6. J. R. Proot, C. Delrue, and G. Allen, Appl. Phys. Lett. 61, 1948 (1992).
7. G. C. John and V. A. Singh, Phys. Rev. B 50, 5329 (1994).
8. H. Richter, Z. P. Wang, and L. Ley, Solid State Commun. 39, 625 (1981).
9. I. H. Campbell and P. M. Fauchet, Solid State Commun. 58, 739 (1986).
10. Z. Iqbal and S. Veprek, J. Phys. C 15, 377 (1982).
11. Y. A. Pasep, M. T. O. Silva, J. C. Galzerani, N. T. Moshegore, and P. Basmaji, Phys. Rev. B 58, 10683 (1998).
12. Z. Sui, P. P. Leong, I. P. Hermar, G. S. Higashi, and H. Temkin, Appl. Phys. Lett. 60, 2086 (1992).
13. H. Münder, C. Andrzejak, M. G. Berger, U. Klemradt, H. Luth, R. Herino, and M. Ligeon, Thin Solid Films 221, 27 (1992).
14. T. Kanata, H. Murai, and K. Kubota, J. Appl. Phys. 61, 969 (1986).
15. C. E. Bottani, C. Mantini, P. Milani, M. Manfredini, A. Stella, P. Tognini, P. Cheyssac, and R. Kofman, Appl. Phys. Lett. 69, 2409 (1996).
16. M. J. Lipp, V. G. Baonza, W. J. Evans, and H. E. Lorentzana, Phys. Rev. B 56, 5978 (1997).
17. M. Binder, T. Edelmann, T. H. Metzger, G. Mauckner, G. Goerigk, and J. Peisl, Thin Solid Films 276, 65 (1996).
18. M. Ehbrecht, B. Kohn, F. Huisken, M. A. Laguna, and V. Paillard, Phys. Rev. B 56, 6958 (1997).
19. J. M. Perez, J. Villalobos, P. McNeill, J. Prasad, R. Cheek, J. Kelber, J. P. Estrera, P. D. Stevens, and R. Glosser, Appl. Phys. Lett. 61, 563 (1992).
20. I. Berbezier and A. Halimaoui, J. Appl. Phys. 74, 5421 (1993).
21. J. B. Khurgin, E. W. Forsythe, G. S. Tompa, and B. A. Khan. Appl. Phys. Lett. 69, 1241 (1996).
22. Y. Kanemitsu, H. Uto, Y. Masumoto, T. Matsumoto, T. Futagi, and H. Mimura, Phys. Rev. B 48, 2827 (1993).
23. Md. N. Islam and S. Kumar (unpublished).
24. S. Schmitt-Rink, D. A. B. Miller, and D. S. Chemla, Phys. Rev. B 35, 8113 (1987).