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Volumn 135, Issue 1, 1998, Pages 78-85

Structural characterization of nanocrystalline SnO2 by X-ray and Raman spectroscopy

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EID: 0002545229     PISSN: 00224596     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1006/jssc.1997.7596     Document Type: Article
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References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.