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Volumn 73, Issue 1, 1998, Pages 43-45

Stress evolution in Mo/Si multilayers for high-reflectivity extreme ultraviolet mirrors

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EID: 0002483569     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.121717     Document Type: Article
Times cited : (61)

References (11)
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    • private communication
    • W. D. Nix (private communication).
    • Nix, W.D.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.