메뉴 건너뛰기




Volumn 77, Issue 26, 2000, Pages 4392-4394

Decrease in gap states at ultrathin SiO2/Si interfaces by crown-ether cyanide treatment

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 0001621089     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1332982     Document Type: Article
Times cited : (38)

References (19)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.