Scanning force microscopy of organic thin-film amorphous hole transport materials

Journal of Applied Physics

Volumn 80, Issue 6, 1996, Pages 3297-3305

  Han, Eun Mi ^a   Do, Lee Mi ^a   Fujihira, Masamichi ^a   Inada, Hiroshi ^b   Shirota, Yasuhiko ^b  

^a TOKYO INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Japan)

^b OSAKA UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001592961     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.363239     Document Type: Article

References (31)

1. C. W. Tang and S. A. VeSlyke, Appl. Phys. Lett. 51, 913 (1987).
2. C. Adachi, T. Tsutsui, and S. Saito, Appl. Phys. Lett. 56, 799 (1990).
3. J. H. Burroughes, D. D. C. Bradley, A. R. Brown, R. N. Marks, K. Mackay, R. H. Friend, and P. L. Holmes, Nature 347, 539 (1990).
4. M. Abkowitz and D. M. Pai, Philos. Mag. B 53, 193 (1986).
5. D. C. Freeman, Jr., and C. E. White, J. Am. Chem. Soc. 78, 2678 (1956).
6. R. Ballardini, G. Varani, M. T. Indelli, and F. Scandola, Inorg. Chem. 25, 3858 (1986).
7. E. M. Han, L. M. Do, Y. Niidome, and M. Fujihira, Chem. Lett. 1994. 969.
8. E. M. Han, L. M. Do, N. Yamamoto, and M. Fujihira, Mol. Cryst. Liq. Cryst. 267, 411 (1995).
9. E. M. Han, L. M. Do, N. Yamamato, and M. Fujihira, Thin Solid Films 273, 202 (1996).
10. L. M. Do, E. M. Han, Y. Niidorne, M. Fujihira, T. Kanno, S. Yoshida, A. Maeda, and A. J. Ikushima, J. Appl. Phys. 76, 5118 (1994).
11. E. M. Han, L. M. Do, N. Yamamoto, and M. Fujihira, Chem. Lett. 1995, 57.
12. M. Fujihira, L. M. Do, A. Koike, and E. M. Han, Appl. Phys. Lett. 68, 1787 (1996).
13. L. M. Do, M. Oyamada, E. M. Han, N. Yamamoto, and M. Fujihira, Thin Solid Films 273, 209 (1996).
14. Y. Shirota, T. Kobata, and N. Noma, Chem. Lett. 1989, 1145.
15. A. Higuchi, H. Inada, T. Kobata, and Y. Shirota, Angew Chem. Adv. Mater. 3, 549 (1991).
16. Y. Shirota, Y. Kuwabara, H. Inada, T. Wakimoto, H. Nakada, Y. Yonemoto, S. Kawami, and K. Imai, Appl. Phys. Lett. 65, 807 (1994).
17. Y. Kuwabara, H. Ogawa, H. Inada, N. Noma, and Y. Shirota, Adv. Mater. 6, 677 (1994).
18. Forces in Scanning Probe Methods, edited by H.-J. Güntherodt, D. Anselmetti, and E. Meyer, NATO ASI Series E. Vol. 286 (Kluwer, Dordrecht, 1995).
19. G. Binnig, C. F. Quate, and Ch. Gerber, Phys. Rev. Lett. 56, 930 (1986).
20. C. M. Mate, G. M. McClelland, R. Erlandsson, and S. Chiang, Phys. Rev. Lett. 59, 1942 (1987).
21. G. Meyer and N. M. Amer, Appl. Phys. Lett. 57, 2089 (1990).
22. O. Marti, J. Colchero, and J. Mlynek, Nanotechnology 1, 141 (1990).
23. J. Frommer, Angew. Chem. Int. Ed. Engl. 31, 1298 (1992).
24. R. M. Overney, E. Meyer, J. Frommer, D. Brodbeck, R. Lüthi, L. Howald, H.-J. Güntherodt, M. Fujihira, H. Takano, and Y. Gotoh, Nature 359, 133 (1992).
25. E. Meyer, R. Overney, R. Lüthi, D. Brodbeck, L. Howald, J. Frommer, H.-J. Güntherodt, O. Wolter, M. Fujihira, H. Takano, and Y. Gotoh, Thin Solid Films 220, 132 (1992).
26. E. Meyer, R. Overney, D. Brodbeck, L. Howald, R. Lüthi, J. Frommer, and H.-J. Güntherodt, Phys. Rev. Lett. 69, 1777 (1992).
27. M. Fujihira and H. Takano, Thin Solid Films 243, 446 (1994).
28. M. Fujihira and Y. Morita, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 1609 (1994).
29. M. Fujihira and H. Takano, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 1860 (1994).
30. R. M. Overney, H. Takano, M. Fujihira, W. Paulus, and H. Ringsdorf, Phys. Rev. Lett. 72, 3546 (1994).
31. W. Ishikawa, H. Inada, H. Nakano, and Y. Shirota, J. Phys. D 26, B94 (1993).