Microstructure of AlGaAs-oxide heterolayers formed by wet oxidation

Applied Physics Letters

Volumn 68, Issue 7, 1996, Pages 906-908

  Guha, S ^a   Agahi, F ^a   Pezeshki, B ^a   Kash, J A ^a   Kisker, D W ^a   Bojarczuk, N A ^a  

^a IBM RESEARCH   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001529006     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.116226     Document Type: Article

References (16)

1. A. R. Sugg, E. I. Chen, T. A. Richard, N. Holonyak, Jr., K. C. Hsieh, Appl. Phys. Lett. AIP 62, 1259 (1993).
2. A. R. Sugg, E. I. Chen, T. A. Richard, N. Holonyak, Jr., and K. C. Hsieh, J. Appl. Phys. AIP 74, 797 (1993).
3. S. A. Maranowski, A. R. Sugg, E. I. Chen, and N. Holonyak, Jr., Appl. Phys. Lett. AIP 63, 1660 (1993).
4. D. L. Huffaker, J. Shin, and D. G. Deppe, Electron. Lett. INS 30, 1946 (1994).
5. M. H. MacDougal, H. Zhao, P. D. Dapkus, M. Ziari, and W. H. Steier, Electron. Lett. INS 30, 1147 (1994).
6. Y. Hayashi, T. Mukaihara, N. Hatori, N. Ohnoki, A. Matsutani, F. Koyama, and K. Iga, OSA 1995 Topical Meeting on Quantum Optoelectronics, postdeadline paper.
7. A. R. Sugg, E. I. Chen, N. Holonyak, Jr., K. C. Hsieh, J. E. Baker, and N. Finnegan, J. Appl. Phys. AIP 74, 3880 (1993).
8. JCDPS Powder Diffraction Data, File No. 10-425.
9. V. A. C. Haanappel, D. v.d. Vendel, H. D. van Corbach, T. Fransen, and P. J. Gellings, Thin Solid Films INS 256, 8 (1995).
10. H. Schneider, D. Voll, B. Saruhan, M. Scmucker, T. Schaller, and A. Sebald, J. Eur. Ceram. Soc. 13, 441 (1994).
11. B. Ealet, M. H. Elyakhloufi, E. Gillet, and M. Ricci, Thin Solid Films INS 200, 92 (1994).
12. M. R. Gallas and G. J. Piermarini, J. Am. Chem. Soc. INS 77, 2917 (1994).
13. A. R. Sugg, N. Holonyak, Jr., J. E. Baker, F. A. Kish,and J. M. Dallessasse, Appl. Phys. Lett. AIP 58, 1199 (1991).
14. D. L. Huffaker, C. C. Lin, J. Shin, and D. G. Deppe, Appl. Phys. Lett. AIP 66, 3096 (1995).
15. K. D. Choquette, K. L. Lear, R. P. Schneider, Jr., K. M. Geib, J. J. Figiel, and R. Hull, IEEE Photonics Technol. Lett. 7, 1237 (1995).
16. J. A. Kash, B. Pezeshki, F. Agahi, and N. A. Bojarczuk, Appl. Phys. Lett. 67, 2022 (1995).