MEPHISTO spectromicroscope reaches 20 nm lateral resolution

Review of Scientific Instruments

Volumn 70, Issue 3, 1999, Pages 1740-1742

  De Stasio, Gelsomina ^a,b   Perfetti, Luca ^e   Gilbert, B ^a   Fauchoux, O ^a   Capozi, M ^b   Perfetti, P ^b   Margaritondo, G ^a,d   Tonner, B P ^c  

^a EPFL   (Switzerland)

^b CNR   (Italy)

^c UNIVERSITY OF WISCONSIN MILWAUKEE   (United States)

^d SINCROTRONE TRIESTE   (Italy)

^e NONE

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001482406     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1149661     Document Type: Article

References (11)

1. G. De Stasio, M. Capozi, G. F. Lorusso, P. A. Baudat, T. C. Droubay, P. Perfetti, G. Margaritondo, and B. P. Tonner, Rev. Sci. Instrum. 69, 2062 (1998).
2. W. Engel, M. E. Kordesh, H. H. Rotermund, S. Kubala, and A. von Oertzen, Ultramicroscopy 36, 148 (1991); B. P. Tonner and G. R. Harp, Rev. Sci. Instrum. 59, 853 (1988); J. Vac. Sci. Technol. A 7, 1 (1989); B. P. Tonner, G. R. Harp, S. F. Koranda, and J. Zhang, Rev. Sci. Instrum. 63, 564 (1992); G. De Stasio, S. Hardcastle, S. F. Koranda, B. P. Tonner, D. Mercanti. M. T. Ciotti, P. Perfetti, and G. Margaritondo, Phys. Rev. E 47, 2117 (1993).
3. W. Engel, M. E. Kordesh, H. H. Rotermund, S. Kubala, and A. von Oertzen, Ultramicroscopy 36, 148 (1991); B. P. Tonner and G. R. Harp, Rev. Sci. Instrum. 59, 853 (1988); J. Vac. Sci. Technol. A 7, 1 (1989); B. P. Tonner, G. R. Harp, S. F. Koranda, and J. Zhang, Rev. Sci. Instrum. 63, 564 (1992); G. De Stasio, S. Hardcastle, S. F. Koranda, B. P. Tonner, D. Mercanti. M. T. Ciotti, P. Perfetti, and G. Margaritondo, Phys. Rev. E 47, 2117 (1993).
4. W. Engel, M. E. Kordesh, H. H. Rotermund, S. Kubala, and A. von Oertzen, Ultramicroscopy 36, 148 (1991); B. P. Tonner and G. R. Harp, Rev. Sci. Instrum. 59, 853 (1988); J. Vac. Sci. Technol. A 7, 1 (1989); B. P. Tonner, G. R. Harp, S. F. Koranda, and J. Zhang, Rev. Sci. Instrum. 63, 564 (1992); G. De Stasio, S. Hardcastle, S. F. Koranda, B. P. Tonner, D. Mercanti. M. T. Ciotti, P. Perfetti, and G. Margaritondo, Phys. Rev. E 47, 2117 (1993).
5. W. Engel, M. E. Kordesh, H. H. Rotermund, S. Kubala, and A. von Oertzen, Ultramicroscopy 36, 148 (1991); B. P. Tonner and G. R. Harp, Rev. Sci. Instrum. 59, 853 (1988); J. Vac. Sci. Technol. A 7, 1 (1989); B. P. Tonner, G. R. Harp, S. F. Koranda, and J. Zhang, Rev. Sci. Instrum. 63, 564 (1992); G. De Stasio, S. Hardcastle, S. F. Koranda, B. P. Tonner, D. Mercanti. M. T. Ciotti, P. Perfetti, and G. Margaritondo, Phys. Rev. E 47, 2117 (1993).
6. W. Engel, M. E. Kordesh, H. H. Rotermund, S. Kubala, and A. von Oertzen, Ultramicroscopy 36, 148 (1991); B. P. Tonner and G. R. Harp, Rev. Sci. Instrum. 59, 853 (1988); J. Vac. Sci. Technol. A 7, 1 (1989); B. P. Tonner, G. R. Harp, S. F. Koranda, and J. Zhang, Rev. Sci. Instrum. 63, 564 (1992); G. De Stasio, S. Hardcastle, S. F. Koranda, B. P. Tonner, D. Mercanti. M. T. Ciotti, P. Perfetti, and G. Margaritondo, Phys. Rev. E 47, 2117 (1993).
7. G. De Stasio et al., Rev. Sci. Instrum. 69, 3106 (1998).
8. D. Dunham, D. Desolge, G. F. Rempfer, W. P. Skoczylas, and B. P. Tonner, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 347, 441 (1994).
9. G. F. Cotterill, R. Bartlet, A. E. Hughes, and B. A. Sexton, Surf. Sci. Lett. 232, L211 (1990); C. M. Eggleston and M. F. Hochella, Jr., Science 254, 983 (1991).
10. G. F. Cotterill, R. Bartlet, A. E. Hughes, and B. A. Sexton, Surf. Sci. Lett. 232, L211 (1990); C. M. Eggleston and M. F. Hochella, Jr., Science 254, 983 (1991).
11. Ch. Ziethen et al., J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 88-91, 983 (1998).