Characteristic of interface effect in Cu-C60 granular films

Applied Physics Letters

Volumn 77, Issue 7, 2000, Pages 984-986

  Li, Xiang ^a,b   Tang, Y J ^a   Zhao, H W ^a   Zhan, W S ^a   Wang, Haiqian ^b   Hou, J G ^b  

^a INSTITUTE OF PHYSICS   (China)

^b UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY OF CHINA   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001480578     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1287910     Document Type: Article

References (21)

1. T. R. Ohno, Y. Chen, S. E. Harvey, G. H. Kroll, P. J. Benning, J. H. Weaver, L. P. F. Chibante, and R. E. Smalley, Phys. Rev. B 47, 2389 (1993).
2. K. Kamarás, Y. Iwasa, and L. Forrö, Phys. Rev. B 55, 10999 (1997).
3. J. Maxwell, P. A. Brühwiler, D. Arvanitis, J. Hasselstrōn, M. K. J. Johnsson, and N. Martensson, Phys. Rev. B 57, 7312 (1998).
4. A. Rosenberg, Phys. Rev. B 51, 1961 (1995): B. W. Hoogenboom, R. Hesper, L. H. Tjeng, and G. A. Sawatzky, Phys. Rev. B 57, 11939 (1998).
5. A. Rosenberg, Phys. Rev. B 51, 1961 (1995): B. W. Hoogenboom, R. Hesper, L. H. Tjeng, and G. A. Sawatzky, Phys. Rev. B 57, 11939 (1998).
6. A. F. Hebard, C. B. Eom, Y. Iwasa, K. B. Lyons, G. A. Thmos, D. H. Rapkine, R. M. Fleming, R. C. Haddon, J. D. Phillips, J. H. Marshall, and R. H. Eick, Phys. Rev. B 50, 17740 (1994).
7. T. Hashizume, K. Motai, X. D. Wang, H. Shinohara, Y. Saito, Y. Maruyama, K. Ohno, Y. Kawazoe, Y. Nishina, H. W. Pickering, Y. Kulk, and T. Sakurai, Phys. Rev. Lett. 18, 2959 (1993).
8. X. D. Zhang, W. B. Zhao, K. Wu, J. L. Zhang, C. Y. Li, D. L. Yin, Z. N. Gu, X. H. Zhou, and Z. X. Jin, Chem. Phys. Lett. 228, 100 (1994).
9. J. G. Hou, W. Yan, W. T. Xu, Y. Li, and Y. H. Zhang, Appl. Phys. Lett. 70, 3110 (1997).
10. J. G. Hou, Y. Li, Y. Wang, W. Xu, J. Zuo, and Y. H. Zhang, Phys. Status Solidi A 163, 403 (1997).
11. J. G. Hou, X. Li, H. Wang, and B. Wang, J. Phys. Chem. Solids (in press).
12. A. F. Hebard, M. J. Rosseinsky, R. C. Haddon, D. W. Murphy, S. H. Glarum, T. T. Palstra, A. P. Ramirez, and A. R. Kortan, Nature (London) 350, 600 (1991).
13. T. Hashizume, K. Motai, X. D. Wang, H. Shinohara, Y. Saito, Y. Maruyama, K. Ohno, Y. Kawazoe, Y. Nishina, H. W. Pickering, Y. Kulk, and T. Sakurai, Phys. Rev. Lett. 18, 2959 (1993).
14. P. W. Murray, M. Φ. Pedersen, E. Lagsgaard, I. Stensgaard, and F. Besenbacher, Phys. Rev. B 55, 9360 (1997).
15. T. Sakurai, X. D. Wang, Q. K. Xue, Y. Hasegawa, T. Hashizume, and H. Shimohara, Prog. Surf. Sci. 51, 335 (1996).
16. J. E. Rowe, P. Rudolf, L. H. Tjeng, R. A. Malic, G. Meigs, C. T. Chen, and E. W. Plummer, Int. J. Mod. Phys. B 6, 3909 (1992).
17. F. Yan, Y. N. Wang, and M. Gu, Phys. Rev. B 55, R4918 (1997).
18. C. K. Hu, H. B. Huntington, and G. R. Gruzalski, Phys. Rev. B 28, 579 (1983).
19. K. H. Ernst, A. Ludviksson, R. Zhang, J. Yoshihara, and C. T. Campbell, Phys. Rev. B 47, 13782 (1993).
20. A. Goldoni, C. Cepek, and S. Modesti, Phys. Rev. B 54, 2890 (1996).
21. A. Glebov, V. Senz, and J. P. Toennies, J. Appl. Phys. 82, 2329 (1997).