Relationship between the Skew Angle and Interplanar Distance in Four Bis(phthalocyaninato)lanthanide(III) Tetrabutylammonium Salts ([NBu4n][LnIIIPc2]; Ln = Nd, Gd, Ho, Lu)

Inorganic Chemistry

Volumn 35, Issue 20, 1996, Pages 5798-5804

  Koike, Naoto ^a   Uekusa, Hidehiro ^a   Ohashi, Yuji ^a   Harnoode, Chokto ^a   Kitamura, Fusao ^a   Ohsaka, Takeo ^a   Tokuda, Koichi ^a  

^a TOKYO INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001395397     PISSN: 00201669     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ic960158d     Document Type: Article

References (55)

1. Nicholson, M. M. In Phthalocyanines. Properties and Applications; Lever, A. B. P., Ed.; VCH Publishers: New York, 1993; Vol. 3, p 71 and references cited therein.
2. (a) Petit, P.; Andre, J.-J. J. Phys. (Paris) 1988, 49, 2059.
3. (b) Petit, P.; Holczer, K.; Andre, J.-J. J. Phys. (Paris) 1987, 48, 1363.
4. Shirk, J. S.; Lindle, J. R.; Bartoli, F. J.; Boyle, M. E. J. Phys. Chem. 1992, 96, 5847.
5. (a) Riou, M. T.; Clarisse, C. J. Electroanal. Chem. Interfacial Electrochem. 1989, 274, 107.
6. (b) Chang, A. T.; Marchou, J.-C. Inorg. Chim. Acta 1981, 53, L241.
7. (a) Collins, G. C. S.; Schiffrin, D. J. J. Electroanal. Chem. Interfacial Electrochem. 1982, 139, 335.
8. (b) M'Sadak, M.; Roncali, J.; Gamier, F. J. Electroanal. Chem. Interfacial Electrochem. 1985, 189, 99.
9. (a) Konami, H.; Hatano, M.; Kobayashi, N.; Osa, T. Chem. Phys. Lett. 1990, 765, 397.
10. (b) Iwase, A.; Harnoode, C.; Kameda, Y. J. Alloys Compd. 1993, 134, 280.
11. (a) Petit, P. Synth. Met. 1992, 46, 147.
12. (b) Turek, P.; Andre, J.-J.; Giraudeau, A.; Simon, J. Chem. Phys. Lett. 1987, 134, 471.
13. (a) Kasuga, K.; Tsutsui, M.; Patterson, R. C.; Tatsumi, K.; Van Opdenbosch, N.; Pepe, G.; Meyer, E. F., Jr. J. Am. Chem. Soc. 1980, 102, 4835.
14. (b) De Cian, A.; Moussasvi, M.; Fischer, J.; Weiss, R. Inorg. Chem. 1985, 24, 3162.
15. (c) Moussavi, M.; De Cian, A.; Fischer, J.; Weiss, R. Inorg. Chem. 1988, 27, 1287.
16. (a) Ishikawa, N.; Ohno, O.; Kaizu, Y.; Kobayashi, H. J. Phys. Chem. 1992, 96, 8832.
17. (b) Ishikawa, N.; Ohno, O.; Kaizu, Y. J. Phys. Chem. 1993, 97, 1004.
18. (c) Orti, E.; Bredas, J. L.; Clarisse, C. J. Chem. Phys. 1990, 92, 1228.
19. (d) Konami, H.; Hatano, M.; Tajiri, A. Chem. Phys. Lett. 1990, 166, 605.
20. Harnoode, C.; Kitamura, F.; Ohsaka, T.; Tokuda, K.; Iwase, A. Denki Kagaku 1993, 61, 767.
21. Collins, G. C. S.; Schiffrin, D. J. J. Electroanal. Chem. Interfacial Electrochem. 1982, 139, 335.
22. (a) Corbeau, Pl.; Riou, M. T.; Clarisse, C.; Bardin, M.; Plichon, V. J. Electroanal. Chem. Interfacial Electrochem. 1989, 274, 107.
23. (b) Moskalev, P. N.; Shapkin, G. N.; Darovskikh, A. N. Russ. J. Inorg. Chem. (Engl. Transl.) 1979, 24, 188.
24. Gieren, A.; Hoppe, W. Chem. Commun. 1971, 413.
25. Darovskikh, A. N.; Frank-Kamenetskaya, O. V.; Fundamenskii, V. S.; Golubev, A. M. Sov. Phys. Crystallogr. 1986, 31, 165.
26. Moskalev, P. N.; Kirin, I. S. Russ. J. Inorg. Chem. (Engl. Transl.) 1970, 15, 7.
27. Ohashi, Y.; Uekusa, H. J. Mol. Struct. 1996, 374, 37.
28. Hai-Fu, F. R-SAPI91: Structure Analysis Programs with Intelligent Control; Rigaku Corp: Tokyo, 1991.
29. Sheldrick, G. M. SHELXL93: Program for the Refinement of Crystal Structures; University of Göttingen: Göttingen, Germany, 1993.
30. Brown, P. J.; Fox, A. G.; Maslen, E. N.; O'Keefe, M. A.; Sabin, T. M.; Willis, B. T. M. International Tables for Crystallography; Wilson, A. J. C. Ed.; Kluwer Academic Publishers: Boston, 1992; Vol. C, p 477.
31. Giere, A.; Hoppe, W. J. Chem. Soc. D 1971, 413.
32. Shannon, R. D. Acta Crystallogr., Sect. A 1976, 32, 751.
33. Bennett, W. E.; Broberg, D. E.; Baenziger, N. C. Inorg. Chem. 1973, 12, 930.
34. Kirin, I. S.; Kolyadin, A. B.; Lychev, A. A. Zh. Strukt. Khim. 1974, 15, 486.
35. Kobayashi, T. Bull. Inst. Chem. Res. 1978, 56, 204.
36. Darovskikh, A. N.; Tsishchenko, A. K.; Frank-Kamenetskaya, O. V.; Fundamenskii, V. S. Kristallografiya 1984, 29, 455.
37. Darovskikh, A. N.; Frank-Kamenetskaya, O. V.; Fundamenskii, V. S.; Golynskaya, O. A. Kristallografiya 1985, 30, 1085.
38. Mossoyan-Deneux, M.; Pierrot, M.; Sorbier, J.-P.; Fournel, A.; Benlian, D. C. R. Acad. Sci., Ser. 2 1986, 303, 669.
39. Paillaud, J. L.; Drillon, M.; De Clan, A.; Fischer, J.; Weiss, R.; Poinsot, R.; Herr, A. Physica B 1991, 175, 337.
40. Silver, J.; Lukes, P.; Howe, S. D.; Howlin, B. J. Mater. Chem. 1991, 1, 29.
41. Darovsky, A.; Wu, L. Y.; Lee, P.; Sheu, H. S. Acta Crystallogr., Sect. C 1991, 47, 1836.
42. Haghighi, M. S.; Teske, C. L.; Homborg, H. Z. Anorg. Allg. Chem. 1992, 608, 73.
43. Capobianchi, A.; Ercolani, C.; Paoletti, A. M.; Pennesi, G.; Rossi, G.; Chiesi-Villa, A.; Rizzoli, C. Inorg. Chem. 1993, 32, 4605.
44. Haghighi, M. S.; Rath, M.; Rotter, H. W.; Homborg, H. Z. Anorg. Allg. Chem. 1993, 619, 1887.
45. Ostendorp, G.; Werner, J.-P.; Homborg, H. Acta Crystallogr., Sect. C, 1995, 51, 1125.
46. Bondi, A. J. Phys. Chem. 1964, 68, 441.
47. Schramm, C. J.; Scaringe, R. P.; Stojakovic, D. R.; Hoffman, B. M.; Ibers, J. A.; Marks, T. J. J. Am. Chem. Soc. 1980, 102, 6702.
48. Palmer, S. M.; Stanton, J. L.; Hoffman, B. M.; Ibers, J. A. Inorg. Chem. 1986, 25, 2296.
49. Almeida, M.; Kanatzidis, M. G.; Tonge, L. M.; Marks, T. J.; Marcy, H. O.; McCarthy, W. J.; Kannewurf, C. R. Solid State Commun. 1987, 63, 457.
50. Palmer, S. M.; Stanton, J. L.; Jaggi, N. K.; Hoffman, B. M.; Ibers, J. A.; Schwartz, L. H. Inorg. Chem. 1985, 24, 2040.
51. Martinsen, J.; Stanton, J. L.; Greene, R. L.; Tanaka, J.; Hoffman, B. M.; Ibers, J. A. J. Am. Chem. Soc. 1985, 107, 6915.
52. Ogawa, M. Y.; Martinsen, J.; Palmer, S. M.; Stanton, J. L.; Tanaka, J.; Greene, R. L.; Hoffman, B. M.; Ibers, J. A. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 1115.
53. Inabe, T.; Marks, T. J.; Burton, R. L.; Lyding, J. W.; McCarthy, W. J.; Kannewurf, C. R.; Reisner, G. M.; Herbstein, F. H. Solid State Commun. 1985, 54, 501.
54. Thompson, J. A.; Murata, K.; Miller, D. C.; Stanton, J. L.; Broderick, W. E.; Hoffman, B. M.; Ibers, J. A. Inorg. Chem. 1993, 32, 3546.
55. Sugimoto, H.; Mori, M.; Masuda, H.; Taga, T. J. Chem. Soc., Chem. Commun. 1986, 962.