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Volumn 82, Issue 22, 1999, Pages 4516-4519

Probing hot-electron dynamics at surfaces with a cold scanning tunneling microscope

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EID: 0001370450     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.82.4516     Document Type: Article
Times cited : (198)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.