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1
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0034379832
-
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F. Bailly, P. Barthen, W. Breuer, H.-J. Frohn, M. Giesen, J. Helber, G. Henkel, A. Priwitzer, Z. Anorg. Allg. Chem. 2000, 626, 1406.
-
(2000)
Z. Anorg. Allg. Chem.
, vol.626
, pp. 1406
-
-
Bailly, F.1
Barthen, P.2
Breuer, W.3
Frohn, H.-J.4
Giesen, M.5
Helber, J.6
Henkel, G.7
Priwitzer, A.8
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7
-
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0040645739
-
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b) V. V. Lyalin, V. V. Orda, L. A. Alekseeva, L. M. Yagupolskii, Zh. Org. Khim. 1971 7, 1473.
-
(1971)
Zh. Org. Khim.
, vol.7
, pp. 1473
-
-
Lyalin, V.V.1
Orda, V.V.2
Alekseeva, L.A.3
Yagupolskii, L.M.4
-
13
-
-
0030525285
-
-
h) H.-J. Frohn, M. Giesen, A. Klose, A. Lewin, V. V. Bardin, J. Organomet. Chem. 1996, 506, 155;
-
(1996)
J. Organomet. Chem.
, vol.506
, pp. 155
-
-
Frohn, H.-J.1
Giesen, M.2
Klose, A.3
Lewin, A.4
Bardin, V.V.5
-
17
-
-
43949163844
-
-
H.-J. Frohn, A. Klose, V. V. Bardin, J. Fluorine Chem. 1993, 64, 201.
-
(1993)
J. Fluorine Chem.
, vol.64
, pp. 201
-
-
Frohn, H.-J.1
Klose, A.2
Bardin, V.V.3
-
18
-
-
0000135772
-
-
H. -J. Frohn, H. Franke, P. Fritzen, V. V. Bardin, J. Organomet. Chem. 2000, 598, 127.
-
(2000)
J. Organomet. Chem.
, vol.598
, pp. 127
-
-
Frohn, H.-J.1
Franke, H.2
Fritzen, P.3
Bardin, V.V.4
-
19
-
-
0005622231
-
-
H.-J. Frohn, H. Franke, V. V. Bardin, Z. Naturforsch. 2000, 54 b, 1495.
-
(2000)
Z. Naturforsch.
, vol.54 B
, pp. 1495
-
-
Frohn, H.-J.1
Franke, H.2
Bardin, V.V.3
-
20
-
-
0039459459
-
-
Integrated Spectral Data Base System for Organic Compounds
-
Integrated Spectral Data Base System for Organic Compounds: http-//www.aist.go.jp/RIODB/SDBS/(17.05.00)
-
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-
-
21
-
-
0000985307
-
-
R. W. Taft, E. Price, I. R. Fox, J. C. Lewis, K. K. Andersen, G. T. Davis, J. Am. Chem. Soc. 1963, 85, 3146.
-
(1963)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.85
, pp. 3146
-
-
Taft, R.W.1
Price, E.2
Fox, I.R.3
Lewis, J.C.4
Andersen, K.K.5
Davis, G.T.6
-
22
-
-
4243664295
-
-
C. Hansch, A. Leo, R. W. Taft, Chem Rev. 1991, 91, 165.
-
(1991)
Chem Rev.
, vol.91
, pp. 165
-
-
Hansch, C.1
Leo, A.2
Taft, R.W.3
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23
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0038866656
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Kristallstrukturanalyse: Siemens-P4-Vierkreisdifrraktometer, Graphitmonochromator, Szintillationszähler, empirische Absorptionskorrekturen, SHELXTL-PLUS-[17] bzw. SHELX97-Programme [18], Direkte Methoden ein Skalierungsfaktor, ein isotroper Extinktionsparameter. Experimentelle Einzelheiten in Tab. 5. Die kristallographischen Daten (ohne Strukturfaktoren) der in dieser Veröffentlichung beschriebenen Strukturen wurden als "supplementary publication no. CCDC-149046 (3i), 149047 (3b), 149048 (3g), 149049 (3d), 149050 (3c), 149051 (3a)" beim Cambridge Crystallographic Data Centre hinterlegt. Kopien können kostenlos bei folgender Adresse in Großbritannien angefordert werden: CCDC, 12 Union Road, Cambridge CB21EZ (Fax: (+44)1223-336-033); e-mail: deposit@ccdc.cam.ac.uk
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Kristallstrukturanalyse: Siemens-P4-Vierkreisdifrraktometer, Graphitmonochromator, Szintillationszähler, empirische Absorptionskorrekturen, SHELXTL-PLUS-[17] bzw. SHELX97-Programme [18], Direkte Methoden ein Skalierungsfaktor, ein isotroper Extinktionsparameter. Experimentelle Einzelheiten in Tab. 5. Die kristallographischen Daten (ohne Strukturfaktoren) der in dieser Veröffentlichung beschriebenen Strukturen wurden als "supplementary publication no. CCDC-149046 (3i), 149047 (3b), 149048 (3g), 149049 (3d), 149050 (3c), 149051 (3a)" beim Cambridge Crystallographic Data Centre hinterlegt. Kopien können kostenlos bei folgender Adresse in Großbritannien angefordert werden: CCDC, 12 Union Road, Cambridge CB21EZ (Fax: (+44)1223-336-033); e-mail: deposit@ccdc.cam.ac.uk).
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0004133516
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B.3 Gaussian Inc, Pittsburgh, PA
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M. J. Frisch, G. W. Trucks, H. B. Schlegel, P. M. W. Gill, B. G. Johnson, M. A. Robb, J. R. Cheeseman, T. Keith, G. A. Petersson, A. Montgomery, K. Raghavachari, M. A. Al-Laham, V. G. Zakrzewski, J. V. Ortiz, J. B. Foresman, C. Y. Peng, P. Y. Ayala, W. Chen, M. W. Wong, J. L. Andres, E. S. Replogle, R. Gomperts, R. L. Martin, D. J. Fox, J. S. Binkley, D. J. Defrees, J. Baker, J. J. P. Stewart, M. Head-Gordon, C.Gonzalez, J. A. Pople, GAUSSIAN 94. Rev B. 1, B.3 Gaussian Inc, Pittsburgh, PA, 1995.
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(1995)
GAUSSIAN 94. Rev B. 1
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Frisch, M.J.1
Trucks, G.W.2
Schlegel, H.B.3
Gill, P.M.W.4
Johnson, B.G.5
Robb, M.A.6
Cheeseman, J.R.7
Keith, T.8
Petersson, G.A.9
Montgomery, A.10
Raghavachari, K.11
Al-Laham, M.A.12
Zakrzewski, V.G.13
Ortiz, J.V.14
Foresman, J.B.15
Peng, C.Y.16
Ayala, P.Y.17
Chen, W.18
Wong, M.W.19
Andres, J.L.20
Replogle, E.S.21
Gomperts, R.22
Martin, R.L.23
Fox, D.J.24
Binkley, J.S.25
Defrees, D.J.26
Baker, J.27
Stewart, J.J.P.28
Head-Gordon, M.29
Gonzalez, C.30
Pople, J.A.31
more..
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36148995600
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A. E. Reed, R. B. Weinstock, F. Weinhold, J. Chem. Phys. 1985, 83, 735;
-
(1985)
J. Chem. Phys.
, vol.83
, pp. 735
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Reed, A.E.1
Weinstock, R.B.2
Weinhold, F.3
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33
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0004150157
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Siemens Analytical X-ray Instruments Inc.: Madison, WI, Vers. 4.2 für PC
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SHELXTL-PLUS; Siemens Analytical X-ray Instruments Inc.: Madison, WI, 1990; Vers. 4.2 für PC.
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(1990)
SHELXTL-PLUS
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0004150157
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Programme zur Strukturlösung und Verfeinerung, G. M. Sheldrick, Universität Göttingen
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SHELX97; Programme zur Strukturlösung und Verfeinerung, G. M. Sheldrick, Universität Göttingen, 1997.
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(1997)
SHELX97
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