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Volumn 57, Issue 8, 1998, Pages R4233-R4236

Thermal evolution of step stiffness on the Si(001) surface: Temperature-rescaled Ising-model approach

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EID: 0001354019     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.57.R4233     Document Type: Article
Times cited : (30)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.