-
1
-
-
33745527441
-
-
Y. Sakitani, H. Yoda, H. Todokoro, Y. Shibata, Y. Yamazaki, K. Ohbitu, N. Saito, S. Moriyama, S. Okazaki, G. Matsuoka, F. Murai, and M. Okumura, J. Vac. Sci. Technol., B10, 2759(1992).
-
(1985)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.10
, pp. 1992
-
-
Sakitani, Y.1
Yoda, H.2
Todokoro, H.3
Shibata, Y.4
Yamazaki, Y.5
Ohbitu, K.6
Saito, N.7
Moriyama, S.8
Okazaki, S.9
Matsuoka, G.10
Murai, F.11
Okumura, M.12
-
2
-
-
33745558902
-
-
B9(6), 2996(1991).
-
S. D. Berger, J. M. Gibson, R. M. Camarda, R. C. Farrow, H. A. Huggins, J. S. Kraus, J. Vac. Sci. Technol., B9(6), 2996(1991).
-
J. Vac. Sci. Technol.
-
-
Berger, S.D.1
Gibson, J.M.2
Camarda, R.M.3
Farrow, R.C.4
Huggins, H.A.5
Kraus, J.S.6
-
4
-
-
33745516433
-
-
H. Y. Liu, M. P. deGrandpre, and W. E. Feely, J. Vac. Sci. Technol., B6, 379(1988).
-
(1988)
J. Vac. Sci. Technol., B6, 379
-
-
Liu, H.Y.1
Degrandpre, M.P.2
Feely, W.E.3
-
5
-
-
0029749715
-
-
2724, 438(1996).
-
(a)S. Uchino, T. Ueno, S. Migitaka, J. Yamamoto, T.Tanaka, F. Murai, H. Shiraishi, and M. Hashimoto, Proc. SPIE 2724, 438(1996).
-
Proc. SPIE
-
-
Uchino, S.1
Ueno, T.2
Migitaka, S.3
Yamamoto, J.4
Tanaka5
Murai, F.6
Shiraishi, H.7
Hashimoto, M.8
-
6
-
-
33745570463
-
-
(b)F. Murai, J. Yamamoto, H. Yamaguchi, Okazaki, K. Sato, K. Hasegawa, and H. Hayakawa, J. Vac. Sci. Technol., B12(6), Nov/Dec, 3874(1994).
-
(1986)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.12
, Issue.6
, pp. 1994
-
-
Murai, F.1
Yamamoto, J.2
Yamaguchi, H.3
Okazaki4
Sato, K.5
Hasegawa, K.6
Hayakawa, H.7
-
7
-
-
0025791116
-
-
1466, 429
-
(a) S. Uchino, T. Iwayanagi, T. Ueno, N. Hayashi, Proc. SPIE 1466, 429(1991).
-
(1991)
Proc. SPIE
-
-
Uchino, S.1
Iwayanagi, T.2
Ueno, T.3
Hayashi, N.4
-
10
-
-
0026945749
-
-
Uchino, M. Katoh, T. Sakamizu, M. Hashimoto, Microelectronic Eng., 18, 341(1992).
-
Microelectronic Eng., 18, 341(1992).
-
-
Uchino1
Katoh, M.2
Sakamizu, T.3
Hashimoto, M.4
-
11
-
-
60849124385
-
-
T. Ueno, S. Uchino, K. T. Hattori, T. Onozuka, S. Shirai, N. Moriuchi, M. Hashimoto, and S. Koibuchi, Proc. SPIE 2195, 173(1993).
-
Proc. SPIE 2195, 173(1993).
-
-
Ueno, T.1
Uchino, S.2
Hattori, K.T.3
Onozuka, T.4
Shirai, S.5
Moriuchi, N.6
Hashimoto, M.7
Koibuchi, S.8
-
12
-
-
3142618175
-
-
K. Kojima, S. Uchino, N. Asai, T. Ueno, Chem. Mater., 8, 2433(1996).
-
Chem. Mater., 8, 2433(1996).
-
-
Kojima, K.1
Uchino, S.2
Asai, N.3
Ueno, T.4
-
13
-
-
33745546509
-
-
S. Migitaka, S. Uchino, T. Ueno, J. Yamamoto, K. Kojima, M. Hashimoto, and H. Shiraishi, SPIE 2274, 613(1996).
-
SPIE 2274, 613(1996).
-
-
Migitaka, S.1
Uchino, S.2
Ueno, T.3
Yamamoto, J.4
Kojima, K.5
Hashimoto, M.6
Shiraishi, H.7
-
15
-
-
0001764332
-
-
J. Yamamoto, S. Uchino, T. Hattori, T. Yoshimura, and F. Murai, Jpn. J. Appl. Phys, 35,6511(1996).
-
Jpn. J. Appl. Phys, 35,6511(1996).
-
-
Yamamoto, J.1
Uchino, S.2
Hattori, T.3
Yoshimura, T.4
Murai, F.5
|