Polarized neutron reflectometry study of an exchange biased Fe3O4/NiO multilayer

Applied Physics Letters

Volumn 69, Issue 10, 1996, Pages 1489-1491

  Ball, A R ^a   Leenaers, A J G ^a   Van Der Zaag, P J ^a   Shaw, K A ^b   Singer, B ^b   Lind, D M ^b   Frederikze, H ^c   Rekveldt, M Th ^c  

^a PHILIPS RESEARCH LABORATORIES   (Netherlands)

^b Florida State University   (United States)

^c DELFT UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Netherlands)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001251362     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.116917     Document Type: Article

References (22)

1. W. H. Meiklejohn and C. P. Bean, Phys. Rev. 105, 904 (1957).
2. C. Tsang and K. Lee, J. Appl. Phys. 53, 2605 (1982).
3. V. S. Speriosu, D. A. Herman, I. L. Sanders, and T. Yogi, IBM J. Res. Dev. 34, 884 (1990).
4. M. J. Carey and A. E. Berkowitz, Appl. Phys. Lett. 60, 3060 (1992).
5. R. Jungblut, R. Coehoorn, M. T. Johnson, J. aan de Stegge, and A. Reinders, J. Appl. Phys. 75, 6659 (1994).
6. D. Mauri, H. C. Siegmann, P. S. Bagus, and E. Kay, J. Appl. Phys. 62, 3047 (1987).
7. A. P. Malozemoff, Phys. Rev. B 37, 7673 (1988).
8. G. P. Felcher, Physica B 192, 137 (1993).
9. S. S. P. Parkin, V. R. Deline, R. O. Hilleke, and G. P. Felcher, Phys. Rev. B 42, 10583 (1990).
10. G. P. Felcher, Y. Y. Huang, M. Carey, and A. Berkowitz, J. Magn. Magn. Mater. 121, 105 (1993).
11. A. R. Ball, H. Fredrikze, P. J. van der Zaag, R. Jungblut, A. Reinders, A. van der Graaf, and M.Th. Rekveldt, J. Magn. Magn. Mater. 148, 46 (1995).
12. P. J. van der Zaag, R. M. Wolf, A. R. Ball, C. Bordel, L. F. Feiner, and R. Jungblut, J. Magn. Magn. Mater. 148, 346 (1995); P. J. van der Zaag, A. R. Ball, L. F. Feiner, R. M. Wolf, and P. A. A. van der Heijden, J. Appl. Phys. 79, 5103 (1996).
13. P. J. van der Zaag, R. M. Wolf, A. R. Ball, C. Bordel, L. F. Feiner, and R. Jungblut, J. Magn. Magn. Mater. 148, 346 (1995); P. J. van der Zaag, A. R. Ball, L. F. Feiner, R. M. Wolf, and P. A. A. van der Heijden, J. Appl. Phys. 79, 5103 (1996).
14. T. Terashima and Y. Bando, Thin Solid Films 152, 455 (1987).
15. D. M. Lind, S. D. Berry, G. Chern, H. Mathias, and L. R. Testardi, Phys. Rev. B 45, 1838 (1992).
16. D. M. Lind, S.-P. Tay, S. D. Berry, J. A. Borchers, and R. W. Erwin, J. Appl. Phys. 73, 6886 (1993); J. A. Borchers, R. W. Erwin, S. D. Berry, D. M. Lind, J. Ankner, E. Lochner, K. A. Shaw, and D. Hilton, Phys. Rev. B 51, 8276 (1995).
17. D. M. Lind, S.-P. Tay, S. D. Berry, J. A. Borchers, and R. W. Erwin, J. Appl. Phys. 73, 6886 (1993); J. A. Borchers, R. W. Erwin, S. D. Berry, D. M. Lind, J. Ankner, E. Lochner, K. A. Shaw, and D. Hilton, Phys. Rev. B 51, 8276 (1995).
18. D. K. G. de Boer, A. J. G. Leenaers, and W. W. van den Hoogenhof, X-ray Spectrom. 24, 91 (1995).
19. S. D. Berry, D. M. Lind, G. Chern, and H. Mathias, J. Magn. Magn. Mater. 123, 126 (1993).
20. A. A. van Well, V.-O. de Haan, and H. Fredrikze, Physica B 198, 217 (1994).
21. T. Fujii, M. Takano, R. Katano, Y. Isozumi, and Y. Bando, J. Magn. Magn. Mater. 130, 267 (1994).
22. I. Grigorov, J. Freeman, J. C. Walker, and D. M. Lind (private communication).