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Volumn 54, Issue 16, 1996, Pages 11731-11740

Low-energy electron microscopy study of step mobilities on Si(001)

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EID: 0001176013     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.54.11731     Document Type: Article
Times cited : (94)

References (30)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.