Observation of small interfacial strains in YBa2Cu3Ox sub-micron-thick films grown on SrTiO3 substrates

Applied Physics Letters

Volumn 72, Issue 23, 1998, Pages 2966-2968

  Lin, W J ^a   Hatton, P D ^a   Baudenbacher, F ^b   Santiso, J ^b  

^a DURHAM UNIVERSITY   (United Kingdom)

^b UNIVERSITY OF CAMBRIDGE   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001048826     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.121509     Document Type: Article

References (23)

1. N. M. Alford, S. J. Penn, and T. W. Button, Supercond. Sci. Technol. 10, 169 (1997).
2. B. Roas, L. Schultz, and G. Saemann-Ischenko, Phys. Rev. Lett. 64, 479 (1990).
3. A. Mogro-Campero, L. G. Turner, and E. L. Hall, J. Appl. Phys. 65, 4951 (1989);
4. L. Luo, X. D. Wu, R. C. Dye, R. E. Muenchausen, S. R. Foltyn, Y. Coulter, and C. J. Maggiore, Appl. Phys. Lett. 59, 2043 (1991).
5. T. Tershima, Y. Bando, K. Iijima, K. Yamamoto, K. Hirata, K. Kamigaki, and H. Terauchi, Physica C 162-164, 615 (1989);
6. K. Kamigaki, H. Terauchi, T. Terashima, Y. Bando, K. Iijima, K. Yamamoto, K. Hirata, K. Hayashi, I. Nakagawa, and Y. Tomii, J. Appl. Phys. 69, 3653 (1991).
7. K. Hirata, F. Bauenbacher, and H. Kinder, Physica C 214, 272 (1993).
8. S. P. Collins, R. J. Cernik, P. Pattison, A. M. T. Bell, and A. N. Fitch, Rev. Sci. Instrum. 63, 1013 (1992);
9. R. J. Cernik, P. K. Murrey, P. Pattison, and A. N. Fitch, J. Appl. Crystallogr. 23, 292 (1990).
10. C. A. Lucas, P. D. Hatton, S. Bates, T. W. Ryan, S. Miles, and B. K. Tanner, J. Appl. Phys. 63, 1936 (1988);
11. T.-S. Gau, S.-L. Chang, H.-H. Hung, C.-H. Lee, T. W. Huang, H.-B. Lu, S.-J. Yang, and S.-E. Hsu, Appl. Phys. Lett. 65, 1720 (1994);
12. Q. D. Jiang, D.-M. Smilgies, R. Feidenhans'l, M. Cardona, and J. Zegenhagen, Solid State Commun. 98, 157 (1996).
13. V. Holy, J. Kubena, I. Ohlida, K. Lischka, and W. Plotz, Phys. Rev. B 47, 15896 (1996);
14. Grazing Incidence X-ray Scattering Software Package, Bede Scientific Instruments Ltd. (1995).
15. T. S. Gau, S. L. Chang, H. H. Hung, C. H. Lee, T. W. Huang, H. B. Lu, S. J. Yang, and S. E. Hsu, Appl. Phys. Lett. 65, 1720 (1994);
16. S. E. Russek, S. C. Sanders, A. Roshko, and J. W. Ekin, 64, 3649 (1994);
17. D. Huttner, O. Meyer, J. Reiner, and G. Linker, 66, 1273 (1995).
18. J. M. Vandenberg, A. T. Macrander, R. A. Hamm, and M. B. Panish, Phys. Rev. B 44, 3991 (1991);
19. X. G. He and M. Razeghi, J. Appl. Phys. 73, 3284 (1994).
20. O. Nakamura, E. E. Fullerton, J. Guimpel, and I. K. Schuller, Appl. Phys. Lett. 60, 120 (1992).
21. P. F. Fewster, J. Appl. Crystallogr. 25, 714 (1992);
22. X. G. He, M. Erdtmann, R. Williams, S. Kim, and M. Razeghi, Appl. Phys. Lett. 65, 2812 (1994);
23. K. Asai, K. Kamei, and H. Katahama, 71, 701 (1997).