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Volumn 72, Issue 3, 1998, Pages 323-325

Electron-beam damage of C60 films on hydrogen-passivated Si(100)

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EID: 0001013611     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.120725     Document Type: Article
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References (17)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.