Linear and nonlinear optical properties of CuInSe2 and CuGaSe2 epitaxial thin films on GaAs(001)

Journal of Applied Physics

Volumn 82, Issue 2, 1997, Pages 817-824

  Bottomley, D J ^a,c   Mito, A ^b   Niki, S ^a   Yamada, A ^a  

^a ELECTROTECHNICAL LABORATORY   (Japan)

^b NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY AIST   (Japan)

^c TOHOKU UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000984941     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.365778     Document Type: Article

References (61)

1. M. M. Fejer, Physics Today 47(5), 25 (1994).
2. M. N. Islam, Physics Today 47(5), 34 (1994).
3. Y. Baek, R. Schiek, and G. I. Stegeman, Opt. Lett. 20, 2168 (1995).
4. Handbook of Nonlinear Optical Crystals edited by V. G. Dmitriev, G. G. Gurzadyan, and D. N. Nikogosyan (Springer, Berlin, 1991).
5. V. Gopalan and R. Raj, Appl. Phys. Lett. 68, 1323 (1996).
6. M. J. Nystrom, B. W. Wessels, D. B. Studebaker, T. J. Marks, W. P. Lin, and G. K. Wong, Appl. Phys. Lett. 67, 365 (1995).
7. M. J. Nystrom, B. W. Wessels, J. Chen, and T. J. Marks, Appl. Phys. Lett. 68, 761 (1996).
8. R.-F. Xiao, L. C. Ng, P. Yu, and G. K. L. Wong, Appl. Phys. Lett. 67, 305 (1995).
9. P. M. Lundquist, H. Zhou, D. N. Hahn, J. B. Ketterson, G. K. Wong, M. E. Hagerman, K. R. Poeppelmeier, H. C. Ong, F. Xiong, and R. P. H. Chang, Appl. Phys. Lett. 66, 2469 (1995).
10. M. J. Nystrom, B. W. Wessels, W. P. Lin, G. K. Wong, D. A. Neumayer, and T. J. Marks, Appl. Phys. Lett. 66, 1726 (1995).
11. P. A. Ramos and E. Towe, Appl. Phys. Lett. 68, 1754 (1996).
12. S. J. B. Yoo, R. Bhat, C. Caneau, and M. A. Koza, Appl. Phys. Lett. 66, 3410 (1995).
13. D. Blanc, A. M. Bouchoux, C. Plumereau, A. Cachard, and J. F. Roux, Appl. Phys. Lett. 66, 659 (1995).
14. P. M. Lundquist, H. C. Ong, W. P. Lin, R. P. H. Chang, J. B. Ketterson, and G. K. Wong, Appl. Phys. Lett. 67, 2919 (1995).
15. H. P. Wagner, S. Wittmann, H. Schmitzer, and H. Stanzl, J. Appl. Phys. 77, 3637 (1995).
16. M. Jäger, G. I. Stegeman, W. Brinker, S. Yilmaz, S. Bauer, W. H. G. Horsthuis, and G. R. Möhlmann, Appl. Phys. Lett. 68, 1183 (1996).
17. S. Tomaru, T. Watanabe, M. Hikita, M. Amano, Y. Shuto, I. Yokohoma, T. Kaino, and M. Asobe, Appl. Phys. Lett. 68, 1760 (1996).
18. S. R. Forrest, P. E. Burrows, A. Stroustrup, D. Strickland, and V. S. Ban, Appl. Phys. Lett. 68, 1326 (1996).
19. W. A. Pender, A. J. Boyle, P. Lambkin, W. J. Blau, K. Mazaheri, D. J. Westland, V. Skarda, and M. Sparpaglione, Appl. Phys. Lett. 66, 786 (1995).
20. D. J. Bottomley, G. Lüpke, M. L. Ledgerwood, X. Q. Zhou, and H. M. van Driel, Appl. Phys. Lett. 64, 2748 (1994).
21. E. Ghahramani, D. J. Moss, and J. E. Sipe, Phys. Rev. Lett. 64, 2815 (1990).
22. D. J. Bottomley, J.-M. Baribeau, and H. M. van Driel, Phys. Rev. B 50, 8564 (1994).
23. J. Amzallag, H. Benisty, S. Debrus, M. May, M. Eddrief, A. Bourdon, A. Chevy, and N. Piccioli, Appl. Phys. Lett. 66, 982 (1995).
24. C. Meyer, G. Lüpke, Z. G. Lü, A. Gölz, H. Kurz, and G. Lucovsky, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 3107 (1996).
25. D. J. Bottomley, A. Mito, S. Niki, and A. Yamada, Opt. Lett. 21, 254 (1996).
26. V. Pruneri, R. Koch, P. G. Kazansky, W. A. Clarkson, P. St. J. Russell, and D. C. Hanna, Opt. Lett. 20, 2375 (1995).
27. M. M. Fejer, G. A. Magel, D. H. Jundt, and R. L. Byer, IEEE J. Quantum Electron. 28, 2631 (1992).
28. G. C. Bhar, Jpn. J. Appl. Phys. 32, Suppl. 32-3, 653 (1993).
29. G. C. Bhar, P. K. Datta, and S. Das, Jpn. J. Appl. Phys. 32, Suppl. 32-3, 120 (1993).
30. S. Niki, Y. Makita, A. Yamada, O. Hellman, P. J. Fons, A. Obara, Y. Okada, R. Shioda, H. Oyanagi, T. Kurafuji, S. Chichibu, and H. Nakanishi, J. Cryst. Growth 150, 1201 (1995).
31. S. Niki, H. Shibata, P. J. Fons, A. Yamada, A. Obara, Y. Makita, T. Kurafuji, S. Chichibu, and H. Nakanishi, Appl. Phys. Lett. 67, 1289 (1995).
32. A. Ohtani, K. S. Stevens, and R. Beresford, Appl. Phys. Lett. 65, 61 (1994).
33. C. Wetzel, D. Volm, B. K. Meyer, K. Pressel, S. Nilsson, E. N. Mokhov, and P. G. Baranov, Appl. Phys. Lett. 65, 1033 (1994).
34. D. J. Bottomley and P. Fons, Jpn. J. Appl. Phys. 34, L1616 (1995).
35. Y. Okada, R. Shioda, S. Niki, A. Yamada, H. Oyanagi, and Y. Makita, Extended Abstracts of the 1994 International Conference on Solid State Devices and Materials, Yokohama, Japan, August 23-26 1994; pp. 208-210.
36. C. W. van Hasselt, M. A. C. Devillers, Th. Rasing, and O. A. Aktsipetrov, J. Opt. Soc. Am. B 12, 33 (1995).
37. F. A. Abou-Elfotouh, G. S. Horner, T. J. Coutts, and M. W. Wanlass, Sol. Cells 30, 473 (1991).
38. F. A. Abou-Elfotouh, R. J. Matson, A. M. Berry, and L. L. Kazmerski, Thin Solid Films 193/194, 769 (1990).
39. F. A. Abou-Elfotouh, L. L. Kazmerski, H. R. Moutinho, J. M. Wissel, R. G. Dhere, A. J. Nelson, and A. M. Bakry, J. Vac. Sci. Technol. A 9, 554 (1991).
40. F. A. Abou-Elfotouh, H. Moutinho, A. Bakry, T. J. Coutts, and L. L. Kazmerski, Sol. Cells 30, 151 (1991).
41. A. Yamada, Y. Makita, S. Niki, A. Obara, P. Fons, and H. Shibata, Microelectron. J. 27, 53 (1996).
42. J. E. Jaffe and A. Zunger, Phys. Rev. B 29, 1882 (1984).
43. J. L. Shay and J. H. Wernick, Ternary Chalcopyrite Semiconductors: Growth, Electronic Properties, and Applications (Pergamon, Oxford, 1975), Ch. 4.
44. P. N. Butcher and D. Cotter, The Elements of Nonlinear Optics (Cambridge University Press, Cambridge, 1990).
45. J. C. Rife, R. N. Dexter, P. M. Bridenbaugh, and B. W. Veal, Phys. Rev. B 16, 4491 (1977).
46. A. N. Tiwari, S. Blunier, M. Filzmoser, H. Zogg, D. Schmid, and H. W. Schok, Appl. Phys. Lett. 65, 3347 (1994).
47. J. Austinat, H. Nelkowski, and W. Schrittenlacher, Solid State Commun. 37, 285 (1981).
48. S. Chichibu, Y. Harada, M. Uchida, T. Wakiyama, S. Matsumoto, S. Shirakata, S. Isomura, and H. Higuchi, J. Appl. Phys. 76, 3009 (1994).
49. W. Hörig, H. Neumann, B. Schumann, and G. Kühn, Phys. Status Solidi B 85, K57 (1978).
50. B. Tell and P. M. Bridenbaugh, Phys. Rev. B 12, 3330 (1975).
51. X. H. Qu, D. J. Bottomley, H. Ruda, and A. J. SpringThorpe, Phys. Rev. B 50, 5703 (1994).
52. E. Yablonovich, C. Flytzanis, and N. Bloembergen, Phys. Rev. Lett. 29, 865 (1972).
53. D. J. Moss, E. Ghahramani, J. E. Sipe, and H. M. van Driel, Phys. Rev. B 41, 1542 (1990).
54. G. Lüpke, D. J. Bottomley, and H. M. van Driel, J. Opt. Soc. Am. B 11, 33 (1994).
55. D. J. Bottomley, G. Lüpke, J. G. Mihaychuk, and H. M. van Driel, J. Appl. Phys. 74, 6072 (1993); ibid. 76, 3937 (1994).
56. D. J. Bottomley, G. Lüpke, J. G. Mihaychuk, and H. M. van Driel, J. Appl. Phys. 74, 6072 (1993); ibid. 76, 3937 (1994).
57. D. J. Bottomley, Appl. Phys. Lett. 67, 3682 (1995).
58. S. Janz (private communication).
59. A. Kelly and G. W. Groves, Crystallography and Crystal Defects (Addison-Wesley, Reading, MA, 1970).
60. Physics of Ternary Compounds, Semiconductors, Landolt-Börnstein Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology, edited by O. Madelung (Springer, Berlin, 1985), Vol. 17, Subvol h.
61. R. Shioda, Y. Okada, H. Oyanagi, S. Niki, A. Yamada, and Y. Makita, J. Cryst. Growth 150, 1196 (1995).