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Volumn 70, Issue 5, 1997, Pages 610-612

Spectroscopic ellipsometric characterization of undoped ZnTe films grown on GaAs

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EID: 0000867690     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.118289     Document Type: Article
Times cited : (39)

References (18)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.