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Volumn 69, Issue 27, 1996, Pages 4245-4247

Improved electron-beam patterning of Si with self-assembled monolayers

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EID: 0000606307     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.116959     Document Type: Article
Times cited : (28)

References (9)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.