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Volumn 72, Issue 23, 1998, Pages 3032-3034

Characterization of optically dense, doped semiconductors by reflection THz time domain spectroscopy

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EID: 0000466719     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.121531     Document Type: Article
Times cited : (156)

References (9)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.