Surface morphology changes in ZnSe-related II-VI epitaxial films grown by molecular beam epitaxy

Journal of Applied Physics

Volumn 82, Issue 6, 1997, Pages 2938-2943

  Tomiya, S ^a   Minatoya, R ^a   Tsukamoto, H ^a   Itoh, S ^a   Nakano, K ^a   Morita, E ^a   Ishibashi, A ^a  

^a SONY CORPORATION   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000441226     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.366128     Document Type: Article

References (18)

1. M. A. Haase, J. Qiu, J. M. DePuydt, and H. Cheng, Appl. Phys. Lett. 59, 1272 (1991).
2. S. Taniguchi, T. Hino, S. Itoh, K. Nakano, N. Nakayama, A. Ishibashi, and M. Ikeda, Electron. Lett. 32, 552 (1996).
3. H. Okuyama, T. Kawasumi, A. Ishibashi, and M. Ikeda, J. Cryst. Growth (to be published).
4. D. J. Eaglesham and M. Cerullo, Phys. Rev. Lett. 64, 1943 (1990).
5. A. J. Pidduck, D. J. Robbins, A. G. Cullis, W. Y. Leong, and A. M. Petit, Thin Solid Films 222, 78 (1992).
6. S. Guha, A. Madhukar, and K. C. Rajikurma, Appl. Phys. Lett. 57, 2110 (1990).
7. C. W. Snyder, B. G. Orr, D. Kessler, and L. M. Sander, Phys. Rev. Lett. 66, 3032 (1991).
8. M. A. Cotta, R. A. Hamm, T. W. Staley, S. N. G. Chu, L. R. Harriott, and M. B. Panish, Phys. Rev. Lett. 70, 4106 (1993).
9. C. Orme, M. D. Johnson, J. L. Sudijono, K. T. Leuong, and B. G. Orr, Appl. Phys. Lett. 64, 860 (1994).
10. M. D. Pashley, Phys. Rev. B 40, 10 481 (1989).
11. H. H. Farrell, J. L. deMiguel, and M. C. Tamargo, J. Appl. Phys. 65, 4084 (1989).
12. M. Vos, F. Xu, S. G. Anderson, J. H. Weaver, and H. Cheng, Phys. Rev. B 39, 10 744 (1989).
13. T. Yao, Z. Q. Zhu, K. Uesugi, S. Kamiyama, and M. Fujimoto, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 997 (1990).
14. C. H. Park and D. J. Chadi, Phys. Rev. B 49, 16 467 (1994).
15. A. Garcia and J. E. Northrup, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 2678 (1994).
16. H. H. Farrell, M. C. Tamargo, and S. M. Shibli, J. Vac. Sci. Technol. B 8, 884 (1990).
17. W. Chen, A. Kahn, P. Soukiassian, P. S. Mangat, J. Gaines, C. Ponzoni, and D. Olego, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 2639 (1994).
18. T. Hashizume, Q. K. Xue, J. Zhou, A. Ichimiya, and T. Sakurai, Phys. Rev. Lett. 73, 2208 (1994).