Using magnetoresistance to probe reversal asymmetry in exchange biased bilayers

Journal of Applied Physics

Volumn 88, Issue 1, 2000, Pages 344-347

  Leighton, C ^a   Song, M ^a   Nogues J ^a,b   Cyrille, M C ^a   Schuller, Ivan K ^a  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

^b UNIVERSITAT AUTÒNOMA DE BARCELONA   (Spain)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000029637     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.373665     Document Type: Article

References (21)

1. W. H. Meiklejohn and C. P. Bean, Phys. Rev. 102, 1413 (1956).
2. Review, J. Nogués and I. K. Schuller, J. Magn. Magn. Mater. 192, 203 (1999).
3. Review, A. E. Berkowitz and K. Takano, J. Magn. Magn. Mater. 200, 552 (1999).
4. J. Nogués and I. K. Schuller, J. Magn. Magn. Mater. 192, 203 (1999).
5. C. Tsang, N. Heiman, and K. Lee, J. Appl. Phys. 52, 2471 (1981).
6. M. D. Stiles and R. D. McMichael, Phys. Rev. B 59, 3722 (1999).
7. J. I. Martín, J. Nogués. I. K. Schuller, M. J. van Bael, K. Temst, C. Van Haesendonck, V. V. Moshchalkov, and Y. Bruynseraede, Appl. Phys. Lett. 72, 255 (1998); J. I. Martín, Y. Jaccard, A. Hoffmann, J. Nogués, J. M. George, J. L. Vicent, and I. K. Schuller, J. Appl. Phys. 84, 411 (1998).
8. J. I. Martín, J. Nogués. I. K. Schuller, M. J. van Bael, K. Temst, C. Van Haesendonck, V. V. Moshchalkov, and Y. Bruynseraede, Appl. Phys. Lett. 72, 255 (1998); J. I. Martín, Y. Jaccard, A. Hoffmann, J. Nogués, J. M. George, J. L. Vicent, and I. K. Schuller, J. Appl. Phys. 84, 411 (1998).
9. K. Hong and N. Giordano, Phys. Rev. B 51, 9855 (1995); K. Hong and N. Giordano, J. Phys. C 10, L401 (1998).
10. K. Hong and N. Giordano, Phys. Rev. B 51, 9855 (1995); K. Hong and N. Giordano, J. Phys. C 10, L401 (1998).
11. U. Rüdiger, J. Yu, S. Zhang, A. D. Kent, and S. S. P. Parkin, Phys. Rev. Lett. 80, 5639 (1998).
12. J.-E. Wegrowe, D. Kelly, A. Franck, S. E. Gilbert, and J.-Ph. Ansermet, Phys. Rev. Lett. 82, 3681 (1999).
13. T. Taniyama, I. Nakatani, T. Namikawa, and Y. Yamazaki, Phys. Rev. Lett. 82, 2780 (1999).
14. Y. Chen, D. K. Lottis, and E. D. Dahlberg, J. Appl. Phys. 70, 5822 (1991).
15. A. Nemoto, Y. Otani, S. G. Kim, K. Fukamachi, O. Kitakami, and Y. Shimada, Appl. Phys. Lett. 74, 4026 (1999).
16. B. H. Miller and E. D. Dahlberg, Appl. Phys. Lett. 69, 3932 (1996).
17. C. Leighton, J. Nogués, H. Suhl, and I. K. Schuller, Phys. Rev. B 60, 12 837 (1999).
18. M. R. Fitzsimmons, P. Yashar, C. Leighton, J. Nogués, I. K. Schuller, C. F. Majkrzak, and J. Dura, Phys. Rev. Lett 84, 3986 (2000).
19. See, for example, I. A. Camphell and A. Pert, in Ferromagnetic Materials, edited by E. P. Wohlfarth (North-Holland, Amsterdam, 1982), Vol. 3, p. 1.
20. N. C. Koon, Phys. Rev. Lett. 78, 4685 (1997); T. J. Moran, J. Nogués, D. Lederman, and I. K. Schuller, Appl. Phys. Lett. 72, 617 (1998).
21. N. C. Koon, Phys. Rev. Lett. 78, 4685 (1997); T. J. Moran, J. Nogués, D. Lederman, and I. K. Schuller, Appl. Phys. Lett. 72, 617 (1998).