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Volumn 57, Issue 16, 1998, Pages 9856-9860

Ballistic-electron-emission microscopy on Schottky diodes using InAs tips

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EID: 0000023727     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.57.9856     Document Type: Article
Times cited : (7)

References (22)
  • 21
    • 85037910496 scopus 로고    scopus 로고
    • E. P. O’Reilly, The properties of GaAs, INSPEC EMIS Data Review Series No. 2, 111 (1990).
    • O’Reilly, E.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.