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Volumn 67, Issue 9, 1996, Pages 3369-

The Advanced Photon Source Metrology Laboratory

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ADVANCED PHOTON SOURCE; ANL; MEASURING INSTRUMENTS; MIRRORS; OPTICAL SYSTEMS; SURFACE FINISHING; TOPOGRAPHY; X RAY EQUIPMENT

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EID: 9444233235     PISSN: 00346748     EISSN: 10897623     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1147326     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.