Observation of visible light emission from Co-silicided junctions with leakage current

Applied Physics Letters

Volumn 70, Issue 3, 1997, Pages 387-389

  Watanabe, J ^a   Goto, K ^a   Nakamura, T ^a  

^a FUJITSU LABORATORIES LTD   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 8744239429     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.118420     Document Type: Article

References (10)

1. A. E. Morgan, E. K. Broadbent, M. Delfino, B. Coulman, and D. K. Sadana, J. Electrochem. Soc. 134, 925 (1987).
2. T. Yamazaki, K. Goto, T. Fukano, Y. Nara, T. Sugii, and T. Ito, IEDM Tech. Dig., 906 (1993).
3. K. Goto, T. Yamazaki, A. Fushida, S. Inagaki, and H. Yagi, Symp VLSI Tech. 119 (1994).
4. K. Goto, A. Fushida, J. Watanabe, T. Sukegawa, K. Kawamura, T. Yamazaki, and T. Sugii, IEDM Tech. Dig., 449 (1995).
5. T. Sukegawa, H. Tomita, A. Fushida, K. Goto, S. Komiya, and T. Nakamura (unpublished).
6. A. G. Chynoweth and K. G. McKay, Phys. Rev. 102, 369 (1956).
7. A. Toriumi, M. Yoshimi, M. Iwase, Y. Akiyama, and K. Taniguchi, IEEE Trans. Electron Devices ED-34, 1501 (1987).
8. D. J. DiMaria, J. R. Kirtley, E. J. Pakulis, D. W. Dong, T. S. Kuan, F. L. Pesavento, T. N. This, J. A. Cutro, and S. D. Brorson, J. Appl. Phys. 56, 401 (1984).
9. J. Koïzer, C. Boit, A. Dallmann, G. Deboy, J. Otto, and D. Weinmann, J. Appl. Phys. 71, R23 (1992).
10. G. A. M. Hurkx, D. B. M. Klaassen, and M. P. G. Knuvers, IEEE Trans. Electron Devices ED-39, 331 (1992).