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Volumn 19, Issue 3, 2008, Pages 75-78

Expatriates: Reducing failure rates

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EID: 85113841543     PISSN: 10448136     EISSN: 10970053     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/jcaf.20388     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.