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Volumn 483-485, Issue , 2005, Pages

Silicon Carbide and Related Materials 2004
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COMPUTER SIMULATION; CRYSTAL DEFECTS; DOPING (ADDITIVES); EPITAXIAL GROWTH; SINGLE CRYSTALS;

EID: 85086679833     PISSN: 02555476     EISSN: 16629752     Source Type: Book Series    
DOI: None     Document Type: Conference Review
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.