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Volumn , Issue , 2000, Pages

Development of finite element US-SID and Euro-SID model

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ACCIDENTS;

EID: 85072470539     PISSN: 01487191     EISSN: 26883627     Source Type: Journal    
DOI: 10.4271/2000-01-0160     Document Type: Conference Paper
Times cited : (3)

References (6)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.