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Volumn 13, Issue 4, 2005, Pages 267-274

Normalisation of the resolution function in TOF technique

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Data analysis; Inelastic scattering

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EID: 85013616362     PISSN: 10238166     EISSN: 14772655     Source Type: Journal    
DOI: 10.1080/10238160512331330189     Document Type: Article
Times cited : (14)

References (9)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.