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Volumn 33, Issue 4, 2000, Pages 113-116

XML: An Interview with Peter Flynn

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EID: 85008065259     PISSN: 00189162     EISSN: None     Source Type: Trade Journal    
DOI: 10.1109/MC.2000.839355     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.