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Volumn 5, Issue , 2001, Pages 487-490

Parasitic extraction: Current state of the art and future trends

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CAPACITANCE; CROSSTALK; ELECTRIC RESISTANCE; INDUCTANCE; INTERCONNECTION NETWORKS; SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURE;

EID: 85003601545     PISSN: 02714310     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1109/5.929651     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.