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Volumn 18, Issue 6, 1992, Pages 421-429

Surface characterization (XPS and SIMS) of emersed polybithiophene electrodes

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EID: 84989026831     PISSN: 01422421     EISSN: 10969918     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/sia.740180609     Document Type: Article
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References (22)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.