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Volumn 112, Issue 47, 2015, Pages 14670-14675

Noninvasive detection of fetal subchromosomal abnormalities by semiconductor sequencing of maternal plasma DNA

Author keywords

cell free DNA; maternal plasma DNA; NIPT; noninvasive prenatal testing; semiconductor sequencing

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DNA;

EID: 84981231456     PISSN: None     EISSN: 10916490     Source Type: Journal    
DOI: 10.1073/pnas.1518151112     Document Type: Article
Times cited : (103)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.