Electron Holography Methods

Handbook of Microscopy Set: Applications in Materials Science, Solid-State Physics and Chemistry

Volumn 1, Issue , 2008, Pages 515-536

  Lichte, Hannes ^a  

^a DRESDEN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Germany)

Author keywords

Coherent illumination; Electrostatic potential; Fourier transform.; Holography methods; Magnetic potential field

Indexed keywords

CONDENSED MATTER PHYSICS; FOURIER TRANSFORMS; MATERIALS SCIENCE;

COHERENT ILLUMINATION; ELECTROSTATIC POTENTIALS; MAGNETIC POTENTIALS;

ELECTRON HOLOGRAPHY;

EID: 84976571307     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Book    
DOI: 10.1002/9783527619283.ch21a     Document Type: Chapter

References (136)

1. W. Glaser, Z. Phys. 1933, 80, 451.
2. W. Ehrenberg, R. E. Siday, Proc. Phys. Soc. B 1949, 62, 8.
3. Y. Aharonov, D. Bohm, Phys. Rev. 1959, 115, 485.
4. O. Scherzer, Z. Phys. 1936, 101, 593.
5. O. Scherzer, J. Appl. Phys. 1949, 20, 20.
6. D. Gabor, Nature 1948, 161, 111.
7. D. Gabor, G. W. Stroke, D. Brumm, A. Funk-houser, A. Labeyrie, Nature 1965, 208, 1159.
8. L. O. Heflinger, R. F. Wuerker, R. E. Brooks, J. Appl. Phys. 1966, 37, 642.
9. O. Bryngdahl, J. Opt. Soc. Am. 1969, 59, 142.
10. D. Gabor, Proc. R. Soc. London 1951, 64, 449.
11. H. Schmid, PhD. Thesis, Tubingen 1985.
12. H. Lichte, Ultramicroscopy 1993, 57, 15.
13. E. Leith, J. Upatnieks, J. Opt. Soc. Am. 1962, 52, 1123.
14. J. M. Cowley, Ultramicroscopy 1992, 41, 335.
15. M. E. Haine, T. Mulvey, J. Opt. Soc. Am. 1952, 42, 763.
16. H.-W. Fink, H. Schmid, H. J. Kreuzer, A. Wierzbicki, Phys. Rev. Lett. 1991, 67, 1543.
17. H. J. Kreuzer, H.-W. Fink, H. Schmid, S. Bonev, J. Microsc. 1995, 178, 191.
18. J. C. H. Spence, X. Zhang, W. Qian, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 267.
19. A. Tonomura, A. Fukuhara, H. Watanabe, T. Komoda, Jpn. J. Appl. Phys. 1968, 7, 295.
20. N. Bonnet, M. Troyon, P. Gallion, in Proc. 9th Int. Cong. Electron Microscopy, Microscopical Society of Canada, Toronto 1978, vol. I, pp. 222-223.
21. T. Matsumoto, T. Tanji, A. Tonomura, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 249.
22. J. Munch, Optik 1975, 43, 79.
23. T. Matsumoto, T. Tanji, A. Tonomura, Optik 1995, 100, 71.
24. R. Lauer, Optik 1984, 66, 159.
25. J. Cowley, in Electron Diffraction Techniques (Ed.: J. M. Cowley), Oxford Science Publications, Oxford 1992, vol. I, 439.
26. J. W. Steeds, P. A. Midgley, P. Spellward, R. Vincent, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 277.
27. J. A. Lin, J. M. Cowley, in Proc. 43rd Meeting of the Electron Microscopical Society of America, Electron Microscopical society of America, 1985, 136.
28. J. M. Cowley, M. A. Gribelyuk, MSA Bull. 1994, 24, 438.
29. L. Marton, Phys. Rev. 1952, 85, 1057.
30. G. Matteucci, G. F. Missiroli, G. Pozzi, Ultramicroscopy 1981, 5, 109.
31. Q. Ru, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 343.
32. G. Mollenstedt, H. Diiker, Z. Phys. 1956,145, 377.
33. R. Buhl, Z. Phys. 1959,155, 395-412.
34. J. Faget, Ch. Fert, C. Phys. 1987, 11, 285.
35. M. Keller, Z. Phys. 1961, 164, 274.
36. W. Bayh, Z. Phys. 1962, 169, 492.
37. H. Wahl, Optik 1970, 30, 577.
38. B. Lischke, Z. Phys. 1970, 239, 360.
39. E. Krimmel, G. Mollenstedt, W. Rothemund, Appl. Phys. Lett. 1964, 5, 209.
40. T. Hibi, S. Takahashi, Z. Phys. 1969, 3, 132.
41. R. Speidel, D. Kurz, Optik 1977, 49, 173.
42. F. Lenz, G. Wohland, Optik 1984, 67, 315.
43. H. Lichte, G. Mollenstedt, J. Phys. E: Sci. Instrum. 1979, 12, 941.
44. A. Tonomura, Jpn. J. Appl. Phys. 1972, 493.
45. G. Pozzi, G. F. Missiroli, J. Microsc. 1973,18, 103.
46. F. Hasselbach, M. Nicklaus, Phys. Rev. A 1993, 48, 143.
47. G. Mollenstedt, H. Wahl, Naturwissenschaften 1968, 55, 340.
48. H. Tomita, T. Matsuda, T. Komoda, Jpn. J. Appl. Phys. 1972, 11, 143.
49. G. Saxon, Optik 1972, 35, 359.
50. M. Mankos, P. de Haan, V. Kambersky, G. Matteucci, M. R. McCartney, Z. Yang, M. R. Scheinfein, J. M. Cowley, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 329.
51. I. Weingartner, W. Mirande, E. Menzel, Optik 1969, 50,318.
52. O. Bryngdahl, A. W. Lohmann, J. Op. Soc. Am. 1968, 58, 141.
53. H. Wahl, Thesis, Tubingen 1975.
54. H. Wahl, Optik 1974, 39, 585.
55. W. D. Rau, H. Lichte, K.-H. Herrmann, Optik 1989, 83 (Suppl 4), 79.
56. Q. Ru, G. Lai, K. Aoyama, J. Endo, A. Tonomura, Ultramicroscopy 1994, 55, 209.
57. E. Heindl, W. D. Rau, H. Lichte, Ultramicroscopy, in press.
58. W. Briinger, Z. Phys. 1972, 250, 263.
59. A. Tonomura, T. Matsuda, T. Komoda, Jpn. J. Appl. Phys. 1978, 17, 1137.
60. B. Frost, Thesis, Tubingen 1993.
61. T. Hirayama, J. Chen, Q. Ru, K. Ishizuka, T. Tanji, A. Tonomura, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 145.
62. A. Tonomura, N. Osakabe, T. Matsuda, T. Kawasaki, J. Endo, S. Yano, H. Yamada, Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 792.
63. U. Weierstall, H. Lichte, Ultramicroscopy, in press.
64. H. Lichte, P. Kessler, F. Lenz, W.-D. Rau, Ultramicroscopy 1993, 52, 575.
65. K. Yada, K. Shibata, T. Hibi, J. Elec. Microsc. 1973, 22, 223.
66. H. Lichte, Ultramicroscopy, in press.
67. E. Volkl, F. Lenz, Q. Fu, H. Lichte, Ultramicroscopy 1994, 55, 75.
68. J. H. C. Spence, J. M. Zuo, Rev. Sci. Instrum. 1988, 59, 2102.
69. I. Daberkow, K.-H. Herrmann, Libin Liu, W. D. Rau, Ultramicroscopy 1991, 38, 215.
70. O. L. Krivanek, P. E. Mooney, Ultramicroscopy 1993, 49, 95.
71. A. Tonomura, J. Endo, T. Matsuda, Optik 1979, 53, 143.
72. K.-J. Hanszen, Adv. Electron. Electron Phys. 1982, 59, 1.
73. J. Chen, T. Hirayama, G. Lai, T. Tanji, K. Ishizuka, A. Tonomura, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 81.
74. W. D. Rau, H. Lichte, E. Volkl, U. Weierstall, J. Comput. Assist. Microsc. 1991, 3, 51.
75. W. D. Rau, MSA Bull. 1994, 24, 459.
76. E. Voelkl, L. F. Allard, B. Frost, J. Microsc, 1995,180, 39.
77. M. Lehmann, E. Volkl, F. Lenz, Ultramicroscopy 1994, 54, 335.
78. M. Lehmann, H. Lichte, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 69.
79. H. Lichte, Ultramicroscopy 1991, 38, 13.
80. H. Wahl, B. Lau, Optik 1979, 54, 27.
81. B. Lau, G. Pozzi, Optik 1978, 51, 287.
82. G. Matteucci, G. F. Missirolli, J. W. Chen, G. Pozzi, Appl. Phys. Lett. 1988, 52, 176.
83. G. Matteucci, M. Muccini, Ultramicroscopy 1994, 53, 19.
84. A. Tonomura, Springer Ser. Opt. Sci. 1993, 70.
85. G. Matteucci, M. Muccini, U. Hartmann, Appl. Phys. Lett. 1993, 62, 1839.
86. J. E. Bonevich, K. Harada, H. Kasai, T. Matsuda, T. Yoshida, G. Pozzi, A. Tonomura, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 135.
87. A. Migliori, G. Pozzi, Ultramicroscopy 1992, 41, 169.
88. A. Migliori, G. Pozzi, A. Tonomura, Ultramicroscopy 1993, 49, 87.
89. J. W. Chen, G. Matteucci, A. Migliori, E. Nichelatti, G. Pozzi, M. Vanzi, Phys. Rev. A 1989, 40, 3136.
90. B. G. Frost, L. F. Allard, E. Volkl, D. C. Joy, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 169.
91. G. Matteucci, G. F. Missiroli, M. Muccini, G. Pozzi, Ultramicroscopy 1992, 45, 77.
92. S. Frabboni, G. Matteucci, G. Pozzi, M. Vanzi, Phys. Rev. Lett. 1985, 55, 2196.
93. C. Capiluppi, A. Migliori, G. Pozzi, J. Microsc. Microanal. Microstruct., in press.
94. M. R. McCartney, B. Frost, R. Hull, M. R. Scheinfein, D. J. Smith, E. Voelkl, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 189.
95. W.-D. Rau, F. H. Baumann, P. K. Roy, J. A. Rentschler, A. Ourmazd, Appl. Phys. Lett., in press.
96. M. Gajdardziska-Josifovska, M. R. McCartney, W. J. de Ruijter, D. J. Smith, J. K. Weiss, J. M. Zuo, Ultramicroscopy 1993, 50, 285.
97. M. Libera, J. Ott, Y. C. Wang, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 231.
98. K.-J. Hanszen, J. Phys. D: Appl. Phvs. 1986, 19, 373.
99. M. R. McCartney, M. Gajdardziska-Josifovska, Ultramicroscopy 1994, 53, 283.
100. Xiao Zhang, D. C. Joy, Y. Zhang, T. Hashimoto, L. Allard, T. A. Nolan, Ultramicroscopv 1993,57,21.
101. E. Volkl, L. F. Allard, B. Frost, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 103.
102. A. K. Datye, D. S. Kalakkad, E. Volkl, L. F. Allard, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 199.
103. L. F. Allard, E. Volkl, S. Subramoney, R. S. RuofT, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 219.
104. X. Lin, V. Ravikumar, R. Rodrigues, N. Wilcox, V. Dravid, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 209.
105. D. Cavalcoli, G. Matteucci, M. Muccini, Ultramicroscopy 1995, 57, 385.
106. J. K. Weiss, W. J. der Ruijter, M. Gaijdarziska-Josifovska, M. R. McCartney, D. J. Smith, Ultramicroscopy 1993, 50, 301.
107. H. Lichte, U. Weierstall, Inst. Phvs. Conf. Ser. 93 1988, 3, 325.
108. K. Aoyama, G. Lai, Q. Ru, in Electron Holo-gmphy (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard, G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier, Amsterdam 1995, 239.
109. N. Osakabe, T. Matsuda, J. Endo, A. Tonomura, Ultramicroscopy 1993, 48, 483.
110. H. Banzhof, K.-H. Herrmann, Ultramicroscopy 1993, 48, 475.
111. R. A. Herring, G. Pozzi, in Electron Holography (Eds.: A. Tonomura, L. F. Allard. G. Pozzi, D. C. Joy, Y. A. Ono), Elsevier Amsterdam 1995, 287.
112. H. Lichte, Ultramicroscopy 1986, 20, 293.
113. H. Lichte, Adv. Opt. Electron Microsc. 1991. 12, 25.
114. Q. Fu, H. Lichte, E. Volkl, Phys. Rev. Lett. 1991, 67, 2319.
115. A. Harscher, G. Lang, H. Lichte, Ultramicroscopy 1995, 58, 79.
116. H. Lichte, Ultramicroscopy 1992, 47, 223.
117. F. Lenz, E. Volkl, Stochastic limitations tc phase and contrast determination in electron holography, Proc. XHth Int. Cong. Electron Microscopy, San Francisco Press, Inc., Seattle 1990, 228.
118. K. Ishizuka, Ultramicroscopy 1994, 53, 297.
119. E. Volkl, L. F. Allard, MSA Bull. 1994,24, 466.
120. O. L. Krivanek, Ultramicroscopy 1994,55, 419.
121. D. Typke, K. Dierksen, Optik 1995, 99, 155.
122. Q. Fu, H. Lichte, J. Microsc. 1995, 179, 112.
123. K. Ishizuka, T. Tanji, A. Tonomura, T. Ohno. Y. Murayama, Ultramicroscopy 1994, 53, 361.
124. M. A. Gribelyuk, J. M. Cowley, Ultramicroscopy 1993, 50, 29.
125. H. Lichte, D. Geiger, A. Harscher, E. Heindl, M. Lehmann, D. Malamidis, A. Orchowski. W. D. Rau, Ultramicroscopy, in press.
126. H. Lichte, K.-H. Herrmann, F. Lenz, Optik 1987, 77, 135.
127. F. Lenz, Optik 1988, 79, 13.
128. W. J. de Ruijter, J. K. Weiss, Ultramicroscopy 1993, 50, 269.
129. A. Harscher, H. Lichte, Ultramicroscopy, in press.
130. M. Haider, G. Braunshausen, E. Schwan, Optik 1995, 99, 167.
131. H. Lichte, E. Volkl, K. Scheerschmidt, Ultramicroscopy 1992, 47, 231.
132. E. Schweda, J. Strahle, H. Lichte, E. Volkl, Ultramicroscopy 1994, 53, 53.
133. T. Tanji, K. Ishizuka, MSA Bull. 1994, 24, 494.
134. A. Orchowski, H. Lichte, Ultramicroscopy, in press.
135. H. Lichte, W.-D. Rau, Ultramicroscopy 1994, 54, 310.
136. A. Orchowski, W. D. Rau, H. Lichte, Phvs. Rev. Lett. 1995, 74, 399.