Tunable radio-frequency negative permittivity in nickel-alumina "natural" meta-composites

Applied Physics Letters

Volumn 104, Issue 25, 2014, Pages

  Shi, Zhi Cheng ^a,b   Chen, Shou Gang ^a   Sun, Kai ^b   Wang, Xin ^a   Fan, Run Hua ^b   Wang, Xu Ai ^b  

^a OCEAN UNIVERSITY OF CHINA   (China)

^b SHANDONG UNIVERSITY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALUMINA; FREQUENCY BANDS; METAMATERIALS; NICKEL; RADIO WAVES; SOLVENTS;

FACILE PREPARATION; NEGATIVE PERMEABILITY; NEGATIVE PERMITTIVITY; PERCOLATION PHENOMENON; RADIO FREQUENCIES; RADIO FREQUENCY RANGE; TAILORED PROPERTIES; WET CHEMICAL PROCESS;

PERMITTIVITY;

EID: 84964762415     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4885550     Document Type: Article

References (33)

1. J. Zhu, J. Chrislensen, J. Jung, L. Martin-Moreno, X. Yin, L. Fok, X. Zhang, and F. J. Garcia-Vidal, Nat. Phys. 7, 52 (2011).
2. I. Z. Nikolay and S. K. Yuri, Nature Mater. 11. 917 (2012).
3. S. Lee, S. Kim, T. T. Kim, Y. Kim, M. Choi, S. H. Lee, J. Y. Kim, and B. Min, Adv. Mater. 24, 3491 (2012).
4. X. Q. Zhang, Z. Tian, W. S. Yue, J. Q. Gu, S. Zhang, J. G. Han, and W. H. Zhang, Adv. Mater. 25, 4567 (2013).
5. Z. C. Shi, R. H. Fan, Z. D. Zhang, L. Qian, M. Gao, M. Zhang, L. Zheng, X. H. Zhang, and L. W. Yin. Adv. Mater. 24, 2349 (2012).
6. Z. C. Shi, R. H. Fan, K. L. Yan, K. Sun, M. Zhang, C. G. Wang, X. F. Liu, and X. H. Zhang, Adv. Fund. Mater. 23. 4123 (2013).
7. Z. C. Shi, R. H. Fan, Z. D. Zhang, K. L. Yan, K. Sun, C. G. Wang, and X. F. Liu, J. Mater. Chem. C 1, 1633 (2013).
8. T. Tsutaoka, J. Appl. Phys. 93, 2789 (2003).
9. T. Kasagi, T. Tsutaoka, and K. Hatakeyama, Appl. Phys. Lett. UK. 172502 (2006).
10. T. Tsutaoka, T. Kasagi, and K. Hatakeyama, J. Appl. Phys. 110, 053909 (2011).
11. K. Bi, J. Zhou, H. J. Zhao, and B. Li, Chin. Sci. Bull. 58. 1785 (2013).
12. H. Zhao, B. Li, and J. Zhou, Opt. Express 19, 15679 (2011).
13. K. Bi, G. Y. Dong, X. J. Fu, and J. Zhou, Appl. Phys. Lett. 103, 131915 (2013).
14. K. Bi, J. Zhou, H. J. Zhao, X. M. Liu, and C. W. Nan. Opt. Express 21, 10746(2013).
15. P. Tassin. T. Koschny, M. Kafesaki. and C. M. Soukoulis, Nat. Photonics 6. 259(2012).
16. D. Y. Zhang, P. P. Wang, R. Murakami, and X. P. Song, Appl. Phys. Lett. 96, 233114(2010).
17. H. Gu, J. Guo, Q. He, Y. Jiang, Y. Huang, N. Haldolaarachchige, Z. Luo, D. P. Young, S. Wei, and Z. Guo, Nanoscale 6. 181 (2014).
18. J. Guo, H. Gu, H. Wei, Q. Zhang, N. Haldolaarachchige, Y. Li, D. P. Young, S. Wei, and Z. Guo, J. Phys. Chem. C 117, 10191 (2013).
19. J. Zhu, H. Gu, Z. Luo, N. Haldolaarachchige, D. P. Young, S. Wei, and Z. Guo, Langmuir 28, 10246(2012).
20. J. Zhu, Z. Luo, S. Wu. N. Haldolaarachchige, D. P. Young, S. Wei, and Z. Guo, J. Mater. Chem. 22, 835 (2012).
21. T. Tsutaoka, T. Kasagi, and S. Yamamoto. Appl. Phys. Lett. 102, 181904 (2013).
22. T. Tsutaoka, K. Fukuyama, H. Kinoshita, T. Kasagi, S. Yamamoto, and K. Hatakeyama, Appl. Phys. Lett. 103. 261906 (2013).
23. Z. C. Shi, R. H. Fan, Z. D. Zhang, H. Y. Gong, J. Ouyang, X. H. Zhang, and L. W. Yin, Appl. Phys. Lett. 99, 032903 (2011).
24. M. Gao, Z. C. Shi, R. H. Fan, L. Qian, Z. D. Zhang, and J. Y. Guo, J. Am. Ceram. Soc. 95, 67(2012).
25. K. L. Yan, R. H. Fan, Z. C. Shi, M. Chen, L. Qian, Y. L. Wei, K. Sun, and J. Li, J. Mater. Chem. C 2. 1028 (2014).
26. Z. D. Zhang, R. H. Fan, Z. C. Shi, K. L. Yan, Z. J. Zhang, X. L. Wang, and S. X. Dou, RSC Adv. 3, 26110 (2013).
27. Z. D. Zhang, R. H. Fan, Z. C. Shi, S. B. Pan, K. L. Yan, K. N. Sun, J. D. Zhang, X. F. Liu, X. L. Wang, and S. X. Dou. J. Mater. Chem. C 1. 79 (2013).
28. Agilent Impedance Measurement Handbook-r4 Guide to Measurement Technology and Techniques, 4th ed. (Agilent Technologies, 2009).
29. M. C. Tucker, G. Y. Lau, C. P. Jacobson, S. J. Visco, and L. C. D. Jonghe, J. Power Sources 195, 3119 (2010)., .
30. H. Orui, R. Chiba, K. Nozawa, H. Arai, and R. Kanno, J. Power Sources 238. 74 (2013).
31. N. J. Taylor, A. J. Pottebaum, V. Uz, and R. M. Laine, Adv. Funct. Mater. 24, 3392-3398 (2014)., .
32. J. C. Dyrc and T. B. Schroder, Rev. Mod. Phys. 72, 873 (2000).
33. T. Echaniz, I. Setien-Fernandez, R. B. Perez-Saez, and M. J. Tello, Appl. Phys. Lett. 102. 244106(2013).