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Volumn , Issue , 2001, Pages 102-105

Charge-sheet MOSFET model with surface degeneracy and freezeout

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SEMICONDUCTOR DEVICES; SILICON CARBIDE;

EID: 84961825361     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/ISDRS.2001.984449     Document Type: Conference Paper
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References (9)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.