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Volumn 2000-January, Issue , 2000, Pages 99-

Reliability consideration for advanced microelectronics

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Microelectronics

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EID: 84949509280     PISSN: 15410110     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/PRDC.2000.897290     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.