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Volumn , Issue , 2003, Pages

Concurrent bug patterns and how to test them

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DISTRIBUTED PARAMETER NETWORKS;

EID: 84947250078     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/IPDPS.2003.1213511     Document Type: Conference Paper
Times cited : (181)

References (11)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.