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Volumn , Issue , 2015, Pages 1-272

Advanced transmission electron microscopy: Applications to nanomaterials

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HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

EID: 84943417410     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Book    
DOI: 10.1007/978-3-319-15177-9     Document Type: Book
Times cited : (36)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.