Fully flexible and transparent piezoelectric touch sensors based on ZnO nanowires and BaTiO3-added SiO2 capping layers

Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science

Volumn 212, Issue 9, 2015, Pages 2005-2011

  Kang, MoolKyul ^a,b   Park, Jae Hyun ^a   Lee, Kyoung Il ^a   Cho, Jin Woo ^a   Bae, Joonho ^c   Ju, Byeong Kwon ^b   Lee, Churl Seung ^a  

^a Korea Electronic Technology Institute (KETI)   (South Korea)

^b Korea University   (South Korea)

^c Gachon University   (South Korea)

Author keywords

BaTiO3; capping layers; flexible devices; nanowires; optical transparency; piezoelectric properties; touch sensors; ZnO

Indexed keywords

BARIUM TITANATE; BENDING TESTS; CONTACT SENSORS; II-VI SEMICONDUCTORS; NANOWIRES; PIEZOELECTRICITY; SILICA; ZINC OXIDE;

BATIO3; CAPPING LAYER; FLEXIBLE DEVICE; OPTICAL TRANSPARENCY; PIEZOELECTRIC PROPERTY; TOUCH SENSORS;

WEARABLE SENSORS;

EID: 84941737790     PISSN: 18626300     EISSN: 18626319     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssa.201431829     Document Type: Article

References (18)

1. K. A. Sierros, D. A. Banerjee, N. J. Morris, D. R. Cairns, I. Kortidis, and, G. Kiriakidis, Thin Solid Films 518, 325 (2010).
2. C. Rendl, P. Greindl, M. Haller, M. Zirkl, B. Stadlober, and, P. Hartmann, in: Proc. 25th Annual ACM Symposium on User Interface Software and Technology, 2012, p. 509.
3. D. H. Choi, M. Y. Choi, H. J. Shin, S. M. Yoon, J. S. Seo, J. Y. Choi, S. Y. Lee, J. M. Kim, and, S. W. Kim, J. Phys. Chem. C 144, 1379 (2010).
4. P. C. Wang, and, A. G. MacDiarmid, Displays 28, 101 (2007).
5. K. A. Sierros, D. S. Hecht, D. A. Banerhee, N. J. Morris, L. Hu, G. C. Irvin, R. S. Lee, and, D. R. Cairns, Thin Solid Films 518, 2677 (2010).
6. Z. L. Wang, Nano Today 5, 540 (2010).
7. G. Zhu, A. C. Wang, Y. Lin, Y. Zhou, and, Z. L. Wang, Nano Lett. 12, 3086 (2012).
8. D. Choi, K. Y. Lee, K. H. Lee, E. S. Kim, T. S. Kim, S. Y. Lee, S.-W. Kim, J.-Y. Choi, and, J. M. Kim, Nanotechnology 21, 405503 (2010).
9. Y. H. Wang, X. Li, C. Zhao, and, X. Liu, in: Proc. 27th IEEE International Conference on Micro-Electro Mechanical Systems, 2014, p. 782.
10. J. H. He, C. L. Hsin, J. Liu, L. J. Chen, and, Z. L. Wang, Adv. Mater. 19, 781 (2007).
11. F. Xia, and, X. Yao, J. Mater. Sci. 34, 3341 (1999).
12. H. Takahashi, Y. Numamoto, J. Tani, K. Matsuta, J. Qiu, and, S. Tsurekawa, Jpn. J. Appl. Phys. 45, L30 (2006).
13. R. Yang, Y. Qin, L. Dai, and, Z. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 94, 022905 (2009).
14. J. W. Cho, C. S. Lee, K. I. Lee, S. M. Kim, S. H. Kim, and, Y. K. Kim, Appl. Phys. Lett. 101, 083905 (2012).
15. D. H. Choi, M. Y. Choi, W. M. Choi, H. J. Shin, H. K. Park, J. S. Seo, J. B. Park, S. M. Yoon, S. J. Chae, Y. H. Lee, S. W. Kim, J. Y. Choi, S. Y. Lee, and, J. M. Kim, Adv. Mater. 22, 2187 (2010).
16. K. I. Park, M. B. Lee, Y. Liu, S. Moon, G. T. Hwang, G. Zhu, J. E. Kim, S. O. Kim, D. K. Kim, and, K. J. Lee, Adv. Mater. 24, 2999 (2012).
17. E. S. Choi, J. O. Kim, S. W. Chun, A. S. Kim, K. H. Lee, M. H. Jeong, Ch. H. Lim, T. Isoshima, M. Kara, and, S. B. Lee, J. Nanosci. Nanotechnol. 11, 5845 (2011).
18. A. F. Yu, H. Y. Li, H. Y. Tang, T. J. Liu, P. Jiang, and, Z. L. Wang, Phys. Status Solidi RRL 5, 162 (2011).