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Volumn 42, Issue 2, 2000, Pages 487-493

Errors, Durable and Otherwise

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EID: 84937331549     PISSN: 00104175     EISSN: 14752999     Source Type: Journal    
DOI: 10.1017/S0010417500002565     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.