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Volumn , Issue , 1995, Pages 429-432

Engineering of the polysilicon emtter interfacial layer using low temperature thermal re-oxidation in an LPCVD cluster tool

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CLUSTER TOOL; INTERFACIAL LAYER; LOW TEMPERATURES; RE-OXIDATION;

EID: 84920720612     PISSN: 19308876     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.