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Volumn 1, Issue , 2015, Pages 63-69

Application

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Crack Depth; Fatigue Crack Growth; Limit State Function; Longitudinal Crack; Probabilistic Input

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EID: 84915761390     PISSN: None     EISSN: 23636998     Source Type: Book Series    
DOI: 10.1007/978-3-319-12877-1_5     Document Type: Chapter
Times cited : (24)

References (2)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.