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Volumn 9, Issue 3, 1991, Pages 638-645

In situ chemical analysis in thin film production using soft x-ray emission spectroscopy

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EID: 84914768599     PISSN: 07342101     EISSN: 15208559     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.577379     Document Type: Article
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References (20)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.