-
1
-
-
33646555105
-
-
Joo, J.; Son, J. S.; Kwon, S. G.; Yu, J. H.; Hyeon, T. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 5632
-
(2006)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.128
, pp. 5632
-
-
Joo, J.1
Son, J.S.2
Kwon, S.G.3
Yu, J.H.4
Hyeon, T.5
-
3
-
-
74849093161
-
-
Liu, Y. H.; Wayman, V. L.; Gibbons, P. C.; Loomis, R. A.; Buhro, W. E. Nano Lett. 2010, 10, 352
-
(2010)
Nano Lett.
, vol.10
, pp. 352
-
-
Liu, Y.H.1
Wayman, V.L.2
Gibbons, P.C.3
Loomis, R.A.4
Buhro, W.E.5
-
4
-
-
80055006969
-
-
Liu, Y. H.; Wang, F. D.; Wang, Y. Y.; Gibbons, P. C.; Buhro, W. E. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 17005
-
(2011)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.133
, pp. 17005
-
-
Liu, Y.H.1
Wang, F.D.2
Wang, Y.Y.3
Gibbons, P.C.4
Buhro, W.E.5
-
5
-
-
84908000498
-
-
Submitted for publication.
-
Wang, Y.; Zhang, Y.; Wang, F.; Giblin, D. E.; Hoy, J.; Rohrs, H. W.; Gross, M. L.; Loomis, R. A.; Buhro, W. E. Submitted for publication.
-
-
-
Wang, Y.1
Zhang, Y.2
Wang, F.3
Giblin, D.E.4
Hoy, J.5
Rohrs, H.W.6
Gross, M.L.7
Loomis, R.A.8
Buhro, W.E.9
-
6
-
-
84883116964
-
-
Li, H.; Brescia, R.; Povia, M.; Prato, M.; Bertoni, G.; Manna, L.; Moreels, I. J. Am. Chem. Soc. 2013, 135, 12270
-
(2013)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.135
, pp. 12270
-
-
Li, H.1
Brescia, R.2
Povia, M.3
Prato, M.4
Bertoni, G.5
Manna, L.6
Moreels, I.7
-
7
-
-
33746306490
-
-
Park, K. H.; Jang, K.; Son, S. U. Angew. Chem., Int. Ed. 2006, 45, 4608
-
(2006)
Angew. Chem., Int. Ed.
, vol.45
, pp. 4608
-
-
Park, K.H.1
Jang, K.2
Son, S.U.3
-
8
-
-
57549114626
-
-
Panthani, M. G.; Akhavan, V.; Goodfellow, B.; Schmidtke, J. P.; Dunn, L.; Dodabalapur, A.; Barbara, P. F.; Korgel, B. A. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 16770
-
(2008)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.130
, pp. 16770
-
-
Panthani, M.G.1
Akhavan, V.2
Goodfellow, B.3
Schmidtke, J.P.4
Dunn, L.5
Dodabalapur, A.6
Barbara, P.F.7
Korgel, B.A.8
-
9
-
-
79954608634
-
-
Zhang, Y.; Lu, J.; Shen, S.; Xu, H.; Wang, Q. Chem. Commun. 2011, 47, 5226
-
(2011)
Chem. Commun.
, vol.47
, pp. 5226
-
-
Zhang, Y.1
Lu, J.2
Shen, S.3
Xu, H.4
Wang, Q.5
-
10
-
-
81855169784
-
-
Vaughn, D. D.; In, S. I.; Schaak, R. E. ACS Nano 2011, 5, 8852
-
(2011)
ACS Nano
, vol.5
, pp. 8852
-
-
Vaughn, D.D.1
In, S.I.2
Schaak, R.E.3
-
11
-
-
79954592874
-
-
Choi, J.; Jin, J.; Jung, I. G.; Kim, J. M.; Kim, H. J.; Son, S. U. Chem. Commun. 2011, 47, 5241
-
(2011)
Chem. Commun.
, vol.47
, pp. 5241
-
-
Choi, J.1
Jin, J.2
Jung, I.G.3
Kim, J.M.4
Kim, H.J.5
Son, S.U.6
-
13
-
-
84859133266
-
-
Kirkeminde, A.; Ruzicka, B. A.; Wang, R.; Puna, S.; Zhao, H.; Ren, S. Q. ACS Appl. Mater. Interfaces 2012, 4, 1174
-
(2012)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.4
, pp. 1174
-
-
Kirkeminde, A.1
Ruzicka, B.A.2
Wang, R.3
Puna, S.4
Zhao, H.5
Ren, S.Q.6
-
14
-
-
84876706634
-
-
Cécile, B.; Tessier, M. D.; Ithurria, S.; Mahler, B.; Nadal, B.; Dubertret, B. Chem. Mater. 2013, 25, 1262
-
(2013)
Chem. Mater.
, vol.25
, pp. 1262
-
-
Cécile, B.1
Tessier, M.D.2
Ithurria, S.3
Mahler, B.4
Nadal, B.5
Dubertret, B.6
-
15
-
-
77955114151
-
-
Schliehe, C.; Juarez, B. H.; Pelletier, M.; Jander, S.; Greshnykh, D.; Nagel, M.; Andreas, M.; Foerster, S.; Kornowski, A.; Klinke, C.; Weller, H. Science 2010, 329, 550
-
(2010)
Science
, vol.329
, pp. 550
-
-
Schliehe, C.1
Juarez, B.H.2
Pelletier, M.3
Jander, S.4
Greshnykh, D.5
Nagel, M.6
Andreas, M.7
Foerster, S.8
Kornowski, A.9
Klinke, C.10
Weller, H.11
-
16
-
-
33947532350
-
-
Nagel, M.; Hickey, S. G.; Frömsdorf, A.; Kornowski, A.; Weller, H. Z. Phys. Chem. 2007, 221, 427
-
(2007)
Z. Phys. Chem.
, vol.221
, pp. 427
-
-
Nagel, M.1
Hickey, S.G.2
Frömsdorf, A.3
Kornowski, A.4
Weller, H.5
-
17
-
-
79952255575
-
-
Ithurria, S.; Bousquet, G.; Dubertret, B. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 3070
-
(2011)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.133
, pp. 3070
-
-
Ithurria, S.1
Bousquet, G.2
Dubertret, B.3
-
18
-
-
84865443507
-
-
Dogan, S.; Bielewicz, T.; Cai, Y.; Klinke, C. Appl. Phys. Lett. 2012, 101, 073102
-
(2012)
Appl. Phys. Lett.
, vol.101
, pp. 073102
-
-
Dogan, S.1
Bielewicz, T.2
Cai, Y.3
Klinke, C.4
-
19
-
-
84875134150
-
-
Wang, Y. Y.; Liu, Y. H.; Zhang, Y.; Kowalski, P. J.; Rohrs, H. W.; Buhro, W. E. Inorg. Chem. 2013, 52, 2933
-
(2013)
Inorg. Chem.
, vol.52
, pp. 2933
-
-
Wang, Y.Y.1
Liu, Y.H.2
Zhang, Y.3
Kowalski, P.J.4
Rohrs, H.W.5
Buhro, W.E.6
-
20
-
-
69549096176
-
-
Son, J. S.; Wen, X. D.; Joo, J.; Chae, J.; Baek, S.; Park, K.; Kim, J. H.; An, K.; Yu, J. H.; Kwon, S. G.; Choi, S. H.; Wang, Z.; Kim, Y. W.; Kuk, Y.; Hoffmann, R.; Hyeon, T. Angew. Chem., Int. Ed. 2009, 48, 6861
-
(2009)
Angew. Chem., Int. Ed.
, vol.48
, pp. 6861
-
-
Son, J.S.1
Wen, X.D.2
Joo, J.3
Chae, J.4
Baek, S.5
Park, K.6
Kim, J.H.7
An, K.8
Yu, J.H.9
Kwon, S.G.10
Choi, S.H.11
Wang, Z.12
Kim, Y.W.13
Kuk, Y.14
Hoffmann, R.15
Hyeon, T.16
-
21
-
-
84881170685
-
-
Wang, S.; Zhang, J.; Zhang, Y.; Alvarado, A.; Attapattu, J.; He, D.; Wang, L.; Chen, C.; Zhao, Y. Inorg. Chem. 2013, 52, 8638
-
(2013)
Inorg. Chem.
, vol.52
, pp. 8638
-
-
Wang, S.1
Zhang, J.2
Zhang, Y.3
Alvarado, A.4
Attapattu, J.5
He, D.6
Wang, L.7
Chen, C.8
Zhao, Y.9
-
22
-
-
84860895451
-
-
Li, Z.; Qin, H.; Guzun, D.; Benamara, M.; Salamo, G.; Peng, X. Nano Res. 2012, 5, 337
-
(2012)
Nano Res.
, vol.5
, pp. 337
-
-
Li, Z.1
Qin, H.2
Guzun, D.3
Benamara, M.4
Salamo, G.5
Peng, X.6
-
25
-
-
0037195359
-
-
Yener, D. O.; Sindel, J.; Randall, C. A.; Adair, J. H. Langmuir 2002, 18, 8692
-
(2002)
Langmuir
, vol.18
, pp. 8692
-
-
Yener, D.O.1
Sindel, J.2
Randall, C.A.3
Adair, J.H.4
-
26
-
-
0000354229
-
-
Machol, J. L.; Wise, F.; Patel, R. C.; Tanner, D. B. Phys. Rev. B 1993, 48, 2819
-
(1993)
Phys. Rev. B
, vol.48
, pp. 2819
-
-
Machol, J.L.1
Wise, F.2
Patel, R.C.3
Tanner, D.B.4
-
27
-
-
84864435052
-
-
Son, J. S.; Park, K.; Kwon, S. G.; Yang, J.; Choi, M. K.; Kim, J.; Yu, J. H.; Joo, J.; Hyeon, T. Small 2012, 8, 2394
-
(2012)
Small
, vol.8
, pp. 2394
-
-
Son, J.S.1
Park, K.2
Kwon, S.G.3
Yang, J.4
Choi, M.K.5
Kim, J.6
Yu, J.H.7
Joo, J.8
Hyeon, T.9
-
29
-
-
77956897643
-
-
Bonderer, L. J.; Feldman, K.; Gauckler, L. J. Compos. Sci. Technol. 2010, 70, 1958
-
(2010)
Compos. Sci. Technol.
, vol.70
, pp. 1958
-
-
Bonderer, L.J.1
Feldman, K.2
Gauckler, L.J.3
-
30
-
-
0012394116
-
-
4 th ed. Jon Wiley & Sons: Hoboken, NJ, pp, 660, 836
-
Callister, W. D., Jr.; Rethwisch, D. G. Fundamentals of Materials Science and Engineering: An Integrated Approach, 4 th ed.; Jon Wiley & Sons: Hoboken, NJ, 2012; pp 650, 660, 836.
-
(2012)
Fundamentals of Materials Science and Engineering: An Integrated Approach
, pp. 650
-
-
Callister, W.D.1
Rethwisch, D.G.2
-
31
-
-
80051613587
-
-
Li, W.; Chen, J. F.; Wang, T. Physica B 2010, 405, 1279
-
(2010)
Physica B
, vol.405
, pp. 1279
-
-
Li, W.1
Chen, J.F.2
Wang, T.3
-
32
-
-
78650889401
-
-
Anoukou, K.; Naït-Abdelaziz, M.; Zaoui, A.; Messager, T.; Gloagen, J. M. Compos. Sci. Technol. 2011, 71, 197
-
(2011)
Compos. Sci. Technol.
, vol.71
, pp. 197
-
-
Anoukou, K.1
Naït-Abdelaziz, M.2
Zaoui, A.3
Messager, T.4
Gloagen, J.M.5
-
33
-
-
0003404413
-
-
1 st ed. Oxford University Press: New York
-
Kelly, M. J. Low-Dimensional Semiconductors: Materials, Physics, Technology, Devices, 1 st ed.; Oxford University Press: New York, 1995; p 269-273.
-
(1995)
Low-Dimensional Semiconductors: Materials, Physics, Technology, Devices
, pp. 269-273
-
-
Kelly, M.J.1
|